主题:请问ICP可以测定合金中Si和P吗?

浏览0 回复29 电梯直达
sxu125
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请问ICP可以测定合金中Si和P吗?怎么处理试样?
推荐答案:SeanWen回复于2005/06/20


找过了,没找到有!
补充答案:

ppccxx回复于2005/06/20


 
P受铜干扰的谱线是哪个波长的线?

renzhihai回复于2005/06/20

最好别用玻璃器皿

lidonglei回复于2005/06/21


中国期刊方阵http://www.cnki.net/index.htm。

sdmidea回复于2005/06/21

我刚才给出的波长是测定P的波长,可以试试,结果不错。

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tzl75
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可以测定主要看你的机子了,样品处理你按国标中的处理只要他们能进入溶液就可以了,
tzl75
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这是测定P的,其他的你可以到资料中心去找
http://www.instrument.com.cn/show/download/shtml/009021.shtml
lidonglei
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可以测定,主要还是样品处理,有关资料可以上中国期刊方阵(清华)和万方数据库去找。
zhangwuji
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SeanWen
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原文由 lidonglei 发表:
可以测定,主要还是样品处理,有关资料可以上中国期刊方阵(清华)和万方数据库去找。


找过了,没找到有!
whale
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个人觉得,这两个元素都不好做。测硅用什么溶解啊?而且我连硅的标准曲线作出来都不好,线性只有0.98,痛苦啊!测P最好用178那条线,属于远紫外区了,也很难做准,得用高纯Ar。
ppccxx
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原文由 zhangwuji 发表:
可以测定, 但P容易受铜干扰,若最好避开该谱线.

 
P受铜干扰的谱线是哪个波长的线?
tzl75
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[
应该是P213.618与Cu213.598,平时都用这个测试光谱仪的实际分辨率,看看是否能完全分开
zhy1005
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不太好做,注意Si的环境干扰,最好扣空白
p主要是不够灵敏,还有Cu得干扰
renzhihai
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