原文由 eee9999eee 发表:
全谱直读等离子体发射光谱仪:光源发出的光通过两个曲面反光镜聚焦于入射狭缝,入射光经抛物面准直镜反射成平行光,照射到中阶梯光栅上使光在X向上色散,再经另一个光栅(Schmidt 光栅)在Y向上进行二次色散,使光谱分析线全部色散在一个平面上,并经反射镜反射进入面阵型CCD检测器检测。由于该CCD是一个紫外型检测器,对可见区的光谱不敏感,因此,在Schmidt 光栅的中央开一个孔洞,部分光线穿过孔洞后经棱镜进行Y向二次色散,然后经反射镜反射进入另一个CCD检测器对可见区的光谱(400-780nm)进行检测。这种全谱直读光谱仪不仅克服了多道直读光谱仪谱线少和单道扫描光谱仪速度慢的缺点,而且所有的元件都牢固地安置在机座上成为一个整体,没有任何活动的光学器件,因此具有较好的波长稳定性。
原文由 shaweinan 发表:
固体成像检测器无论是CCD还是CID,其响应比较好的光学区域是可见区,它们在紫外区的响应是比较小的,所以在此区域一般需要采用一些增敏手段,来提高其响应。
原文由 wangli3636656 发表:
是不是全谱直读的ICP的分光系统都是这种在二次色散的时候分成两个部分
一个是Schmidt光栅色散,一个是棱镜色散,我在前面的西北狼发的flash里面看到的好像就是这种
但是有些图就是直接是中阶梯光栅加上棱镜组合色散的
这是怎么回事,这两种有什么不同吗?
原文由 wangli3636656 发表:原文由 tzl75 发表:
进口的JY和LEEMAN的有单刀扫描的,其他的都是全谱了,单刀的就是慢了点,但是分辨率和灵敏度应该比全谱的高
据我所知,并不是单道扫描比全谱的分辨率高,单道的分辨率是不均匀的,特别在中紫外区(200多纳米)是没有办法和全谱相比较的,全谱的分辨率是均匀的,但是在近紫外区(350纳米)附近确没有单道扫描的高,这也就是为什么测定稀土元素使用单道扫描的ICP更好,因为稀土元素的发射谱先非常复杂,而且多集中在近紫外区。
不知道说的有没有道理。
原文由 创业者(cavelong) 发表:
一般如果用大光栅进行分光(即扫描型)
其特点是固定能级,一般都是采用一级光或二级光,不太可能再采用二级以上的光谱。该方式最大的优势就是分辨率均一,如在采用一级光的时候,覆盖范围从165~800NM,那在这个波段,分辨率是一样的
而全谱直读,由于是完全用能级进行检测,因此只能保证中阶梯光栅闪耀角位置,即200多纳米处,分辨率最好,而在此左右区间,分辨率是依次变差的,就像个金字塔。因此整个分辨率是在不断变化的。
灵敏度和检出限,并不是绝对的全谱就比扫描差,但同样的,不会比扫描好,因为全谱有先天的劣势在里面。
首先,扫描型因为光路元件少,又不存在棱镜透射,因此光谱能量非常强,常规含量测定时候,与全谱比优势不明显,但是一旦测定到很低含量的时候,往往扫描型更容易做到更好,这个应该是事实。
其次,扫描型往往因为有光室焦距的原因,因此从仪器设计上来讲,更容易从硬件上做到更好的分辨率,更低的检出限,而全谱直读因为是靠能级分光,不存在焦距一说,仪器做大做小整体影响不大(当然有一定影响),比如热电的ICP号称全球最小,这个是全谱直读的特点。但从硬件上要想提高分辨率和检出限,实际上能做的工作是很有限的。