我那个物镜光阑的比方比较误导。我的意思不是直接在倒易原理里面做类比,而是从造成成像信号强度变化的角度来看。在TEM里,小的物镜光阑限制了参与成像的衍射光束,所以分辨率不够。在TEM里,太小的会聚角造成中心位置没有干涉,也得不到足够的分辨率。
我对这个问题的理解很直白
![](https://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09510.gif)
(先自我解嘲一下)。先看倒易原理的光路,假设是个TEM,点光源在上。在下面的TEM像平面上,各种角度的散射电子重叠,形成图像。沿这个光路反方向看,在STEM里,大角度照明从下面开始,通过样品后,最终到达上面的那个点,也就是探头的位置。在TEM中,上面一点下来的光最后以各种散射角到达像平面。如果要让STEM和TEM等效起来,STEM中从下面以各种角度发出的会聚光也要最终到达上面的探头,也就是说,各个衍射盘所占据的锥形空间必须包含竖直向上的那个轴,这其实就是要求各个盘在中心位置发生交叠。只有这样,不同角度入射光才能都对探头信号有贡献。这是从光路上看。如果从干涉效应上理解,就是只有干涉才能看到晶格像,所以采集信号的区域必须有交叠。