主题：【求助】HRSTEM的高手请过来指点了

原文由 drizzlemiao 发表:
先说几个要点吧。首先是束斑一定要够小，但是还要有必要的强度，不然噪音就太高了。TEM对中按正常过程做。STEM预备阶段的对中主要是为了在TEM和STEM之间切换的时候光斑移动不多，容易找到样品，没有其它特别的含义。在STEM工作模式下，检查一下电流中心。把光斑固定，可以用Rongchigram消聚光镜像散。这个在荧光屏上操作有点困难，因为圆形图案会变成椭圆形，有电视就方便多了。把样品找到，调好取向。加聚光镜光阑。光阑要比Rongchigram中部区域略大一点点。调整Z高度聚焦，使Rongchigram中心部位的条纹膨胀到最大。插入探头，位置当然要对称。开始扫描，直接放到足够高的倍数，仔细调整图像亮度和对比度。只要样品不是特别糟糕，就应该能看到晶格像，或者原子像了。
明场像要求有束斑有足够的会聚角使衍射盘能够相交，并且相机常数够大使中心盘刚好和探头一样大。明场像可以加一个物镜光阑提高一些衬度。暗场像亮度和对比度的调节挺重要。对于2010F，TEM和STEM用的DV差很多，不知道后来的型号有没有改进。

原文由 drizzlemiao 发表:
我那个物镜光阑的比方比较误导。我的意思不是直接在倒易原理里面做类比，而是从造成成像信号强度变化的角度来看。在TEM里，小的物镜光阑限制了参与成像的衍射光束，所以分辨率不够。在TEM里，太小的会聚角造成中心位置没有干涉，也得不到足够的分辨率。
我对这个问题的理解很直白（先自我解嘲一下）。先看倒易原理的光路，假设是个TEM，点光源在上。在下面的TEM像平面上，各种角度的散射电子重叠，形成图像。沿这个光路反方向看，在STEM里，大角度照明从下面开始，通过样品后，最终到达上面的那个点，也就是探头的位置。在TEM中，上面一点下来的光最后以各种散射角到达像平面。如果要让STEM和TEM等效起来，STEM中从下面以各种角度发出的会聚光也要最终到达上面的探头，也就是说，各个衍射盘所占据的锥形空间必须包含竖直向上的那个轴，这其实就是要求各个盘在中心位置发生交叠。只有这样，不同角度入射光才能都对探头信号有贡献。这是从光路上看。如果从干涉效应上理解，就是只有干涉才能看到晶格像，所以采集信号的区域必须有交叠。

原文由 refe971 发表:

原文由 drizzlemiao 发表:
先说几个要点吧。首先是束斑一定要够小，但是还要有必要的强度，不然噪音就太高了。TEM对中按正常过程做。STEM预备阶段的对中主要是为了在TEM和STEM之间切换的时候光斑移动不多，容易找到样品，没有其它特别的含义。在STEM工作模式下，检查一下电流中心。把光斑固定，可以用Rongchigram消聚光镜像散。这个在荧光屏上操作有点困难，因为圆形图案会变成椭圆形，有电视就方便多了。把样品找到，调好取向。加聚光镜光阑。光阑要比Rongchigram中部区域略大一点点。调整Z高度聚焦，使Rongchigram中心部位的条纹膨胀到最大。插入探头，位置当然要对称。开始扫描，直接放到足够高的倍数，仔细调整图像亮度和对比度。只要样品不是特别糟糕，就应该能看到晶格像，或者原子像了。
明场像要求有束斑有足够的会聚角使衍射盘能够相交，并且相机常数够大使中心盘刚好和探头一样大。明场像可以加一个物镜光阑提高一些衬度。暗场像亮度和对比度的调节挺重要。对于2010F，TEM和STEM用的DV差很多，不知道后来的型号有没有改进。

再问一下，文献上说STEM光路对中可用 Wobbling CL 和 wobbling HT 检查，Wobbling CL 在JEOL和FEI电镜上分别是怎么操作呀，Wobbling Image X,Y吗？

原文由 drizzlemiao 发表:
明场高分辨STEM利用的是相位信息，没有重叠就没有相干成像呀。明场高分辨STEM是相位像所以就出现跟TEM高分辨一样的相位问题，这也是HAADF的一个好处。HAADF就不存在相位反转。这其实引出我另外一个问题，高分辨HAADF是不是需要足够大的会聚角？如果束斑足够小，亮度足够高，但是光束接近平行，能不能得到高分辨HAADF？