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brave03
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发表于：2009/10/08 17:54:32 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
版上有一些人正在做SEM-EBIC方面的研究
下面的一篇文章可以看看

Electron-beam-induced current study of stacking faults and partial dislocations in 4H-SiC Schottky diode

APL,93,033514(2008)
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2009/10/8 17:57:17 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
附件怎么上传不上去啊？
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