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原文由 tutm 发表:
第二个问题清楚了，谢谢！
第一个，我想不用积分球时，固体样品表面与激发光成一定角度，避免被直接反射发射光（荧光）检测器；但是，使用了积分球，激发光射在固体表面被散射后都还在积分球内，这样不会强烈干扰发射光的检测？
原文由 anping 发表:原文由 tutm 发表:
第二个问题清楚了，谢谢！
第一个，我想不用积分球时，固体样品表面与激发光成一定角度，避免被直接反射发射光（荧光）检测器；但是，使用了积分球，激发光射在固体表面被散射后都还在积分球内，这样不会强烈干扰发射光的检测？
回答tutm先生的问题：
您的顾虑我明白了。在用荧光测试固体样品时，的确在一般情况下是使用固体样支架，同时池架也确实与激发光束形成一个45度的夹角；在这种测试状态下，激发光同样会与荧光一同进入荧光侧的单色器中，此时激发光也会在荧光图谱上出现一个至数个干扰峰，不过这些干扰峰此时被称为“瑞利散射峰”了或者称为“倍频峰”了。使用积分球的激发和荧光的情况与固体支架一样。只是产生的荧光光束的形状与使用固体指甲相比更加趋于一致了。
原文由 anping 发表:原文由 tutm 发表:
第二个问题清楚了，谢谢！
第一个，我想不用积分球时，固体样品表面与激发光成一定角度，避免被直接反射发射光（荧光）检测器；但是，使用了积分球，激发光射在固体表面被散射后都还在积分球内，这样不会强烈干扰发射光的检测？
回答tutm先生的问题：
您的顾虑我明白了。在用荧光测试固体样品时，的确在一般情况下是使用固体样支架，同时池架也确实与激发光束形成一个45度的夹角；在这种测试状态下，激发光同样会与荧光一同进入荧光侧的单色器中，此时激发光也会在荧光图谱上出现一个至数个干扰峰，不过这些干扰峰此时被称为“瑞利散射峰”了或者称为“倍频峰”了。使用积分球的激发和荧光的情况与固体支架一样。只是产生的荧光光束的形状与使用固体支架相比更加趋于一致了。
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