主题：【讨论】【年底盘点】透射电镜使用调查（参与有奖）1月31号结贴

原文由 iamikaruk(iamikaruk) 发表:
透射电镜的型号：JEM-200CX,JEM-2000EX,JEM-2010 LaB6,JEM-2010F,Philips CM20 FEG S-Twin,FEI Tecnai F20 S-Twin,FEI Titan 80-300
透射电镜的厂家：JEOL,FEI（Philips）
使用透射电镜年限：3年
使用心得体会：JEOL的电镜操作感很好，所见即所得；Philips/FEI人机界面设计不错，但是缺乏操作的节奏感，老是得迁就它。真空方面个人不喜欢FEI插拔样品的设计，容易出现漏气等问题。JEOL电镜的照明系统与FEI电镜的照明系
统各有千秋，JEOL提供CBD,NBD,EDS等直观的操作按钮，而且有具体束斑大小（除了汇聚角外）信息；FEI的microprobe和nanoprobe两种模式仅有束斑相对大小，没有直接量化概念，无法让人清晰的明白做什么工作该用什么模式，什么束斑，什么光阑，还得去查手册。不过FEI的电镜提供extraction voltage和gun lens等直接调整的功能，可以针对分析STEM和高分辨STEM进行不同的优化，这些在老的JEOL电镜上面一般是不让普通操作人员修改的。看到前面有人提到F20 HRSTEM的问题，这也是我最近遇到的一个问题，F20 STEM理论上可以做到0.19 nm的分辨率，但是怎么调整都只差不多0.2 ~0.3nm的分辨率，而且信噪比比较差。2010F可以轻松达到0.2nm分辨率，而且信噪比不错，就是漂移恐怖了点。感觉FEI电镜的照明系统在设计上十分诡异，举例来说，N.D. Browning等人推荐的F20 gun lens是1.05~1.10 kV，对应gun lens 3~4，目的是为了尽量的缩小束斑尺寸。在JEOL电镜上可以类似的通过调整A2减小gun lens激发，将原本分辨率为0.2 nm的2010F提高到0.14nm。但是FEI手册和在线帮助却提到弱gun lens激发用于HRTEM，强gun lens激发用于scanning，一些网上的说法也是推荐HRSTEM用的gun lens为7。另外个人感觉Titan的Koehler照明系统乱七八糟的，从来就没有见过它同心放大缩小过。如果关闭C3，在beam overfocus的时候强度不均匀，衍射成圆盘；在beam underfocus的时候却强度比较均匀，衍射成点。这些都是与常规电子光学完全相背的设计，真不知道FEI在搞什么鬼。

原文由 zhouzb(zhouzb) 发表:

原文由 penguinle(penguinle) 发表:

原文由 zhouzb(zhouzb) 发表:
现在不能使用，真空有故障，一直在找原因，大半年了。后面墙上是一条裂缝。目前在申请鉴定，估计倒不了。呵呵

请问option电镜是做什么用的，有什么特别的，看着颜色好怪啊。

OPTON电镜实际上就是ZEISS电镜。二战时德国分裂成东西德，ZEISS也分成了两个了。但不能都使用ZEISS的商标，于是其中一个用了OPTON。和其他电镜一样，这台机器当然也用于生物学领域了。国内OPTON电镜在我印象中似乎北京应该是有的。这台机器真不错，服务了二十多年，期间很多配件都无法从厂商得到，靠实验室维修工程师自己修修补补一直坚持工作到现在。现在应该还能修好，只是需要时间。就像一个耄耋老人一样，这台机器实在是太老了，即使暂时修好，也不知什么时候又会冒出新的毛病。

原文由 penguinle(penguinle) 发表:
多谢解释，那请问这个公司现在在做什么？好像在电镜会上没有看到过他们公司的电镜啊，还在德国吗？

二战结束后，Zeiss一分为二，东德为原老的Zeiss，西德的Zeiss在美国人帮助下在斯图加特成立，但品牌变为OPTON。之后1991年柏林墙倒塌后两家又合二为一。现在此公司当然存在了。本论坛扫描电镜版块里还有关于Zeiss电镜的讨论帖，搜搜。更多的信息偶也不太清楚了。

原文由 iamikaruk(iamikaruk) 发表:
透射电镜的型号：JEM-200CX,JEM-2000EX,JEM-2010 LaB6,JEM-2010F,Philips CM20 FEG S-Twin,FEI Tecnai F20 S-Twin,FEI Titan 80-300
透射电镜的厂家：JEOL,FEI（Philips）
使用透射电镜年限：3年
使用心得体会：JEOL的电镜操作感很好，所见即所得；Philips/FEI人机界面设计不错，但是缺乏操作的节奏感，老是得迁就它。真空方面个人不喜欢FEI插拔样品的设计，容易出现漏气等问题。JEOL电镜的照明系统与FEI电镜的照明系
统各有千秋，JEOL提供CBD,NBD,EDS等直观的操作按钮，而且有具体束斑大小（除了汇聚角外）信息；FEI的microprobe和nanoprobe两种模式仅有束斑相对大小，没有直接量化概念，无法让人清晰的明白做什么工作该用什么模式，什么束斑，什么光阑，还得去查手册。不过FEI的电镜提供extraction voltage和gun lens等直接调整的功能，可以针对分析STEM和高分辨STEM进行不同的优化，这些在老的JEOL电镜上面一般是不让普通操作人员修改的。看到前面有人提到F20 HRSTEM的问题，这也是我最近遇到的一个问题，F20 STEM理论上可以做到0.19 nm的分辨率，但是怎么调整都只差不多0.2 ~0.3nm的分辨率，而且信噪比比较差。2010F可以轻松达到0.2nm分辨率，而且信噪比不错，就是漂移恐怖了点。感觉FEI电镜的照明系统在设计上十分诡异，举例来说，N.D. Browning等人推荐的F20 gun lens是1.05~1.10 kV，对应gun lens 3~4，目的是为了尽量的缩小束斑尺寸。在JEOL电镜上可以类似的通过调整A2减小gun lens激发，将原本分辨率为0.2 nm的2010F提高到0.14nm。但是FEI手册和在线帮助却提到弱gun lens激发用于HRTEM，强gun lens激发用于scanning，一些网上的说法也是推荐HRSTEM用的gun lens为7。另外个人感觉Titan的Koehler照明系统乱七八糟的，从来就没有见过它同心放大缩小过。如果关闭C3，在beam overfocus的时候强度不均匀，衍射成圆盘；在beam underfocus的时候却强度比较均匀，衍射成点。这些都是与常规电子光学完全相背的设计，真不知道FEI在搞什么鬼。

原文由 linshiafeng(linshiafeng) 发表:
替我们单位的老师傅回一个，我们这里还有一台坚持工作的H800.八十年代过来的，从来没有厂方工程师来维护，就靠前辈一人管理。经历了数次搬家，地震，还有样品掉落等小事故，或者清洗光栏等例行维护，也不记得拆拆装装多少回了，这老电镜一直在稳定的工作。它承担着全国仅有的特殊材料的分析任务，即使偶尔出现故障，前辈拆装一下就又正常了。为了方便维修，它现在练外壳都不装了。每次看到它做分析我都十分感慨，叫我这样用着先进设备的人汗颜哪。
透射电镜的型号：H800
透射电镜的厂家：Hitachi
使用透射电镜年限：20+年（我是说电镜的年龄，都要奔三了）

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替我们单位的老师傅回一个，我们这里还有一台坚持工作的H800.八十年代过来的，从来没有厂方工程师来维护，就靠前辈一人管理。经历了数次搬家，地震，还有样品掉落等小事故，或者清洗光栏等例行维护，也不记得拆拆装装多少回了，这老电镜一直在稳定的工作。它承担着全国仅有的特殊材料的分析任务，即使偶尔出现故障，前辈拆装一下就又正常了。为了方便维修，它现在练外壳都不装了。每次看到它做分析我都十分感慨，叫我这样用着先进设备的人汗颜哪。
透射电镜的型号：H800
透射电镜的厂家：Hitachi
使用透射电镜年限：20+年（我是说电镜的年龄，都要奔三了）