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主题：【求助】为什么掠入射X射线扫描和粉末模式扫描得到的结果不一样呢

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yan_huo
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发表于：2009/12/24 18:08:40 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
薄膜模式（掠入射x射线扫描)和常规模式（粉末模式）扫描得到的峰不在一个位置上  乱七八糟的 怎么分析啊？

我的样品是单晶硅（100） 上镀的sic薄膜，薄膜模式扫描的时候角度为2度。
那位高人给我看下，这两种模式下的峰是不是要放在一起分析呢，找了一下午了， sic90多张卡片都找了一编，头都大了。
高手快来替我分析下啊  。
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yan_huo
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2009/12/24 18:10:25 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
那个常规模式下 33°和69°的峰应该是si片的峰吧
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yan_huo
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2009/12/24 20:52:05 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
重新将原图上传了 在第二个附件里，一个是2度一个是3度 的掠入射模式

还有一个是常规模式。。黄老师要是有空的话能帮我分析下吗？我实在是无语了，刚接触xrd不久，这边也没什么这方面的高手。
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hytpco
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2009/12/25 8:16:46 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
没做过掠入射的试验，掠入射角2度，3度在哪设定，谢谢！
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yan_huo
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2009/12/25 9:47:15 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我也不知道 实验都是分析测试中心的老师做的  我们不能操作
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yan_huo
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2009/12/26 20:27:34 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
顶一下  求结果
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junnerst
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2010/3/12 20:15:32 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
要完全重合就麻烦大了。因为薄膜衍射的射入角度很小，衍射峰只反映薄膜部分的信息，因此薄膜衍射结果应该是SiC的衍射峰。常规衍射结果，由于涂层较薄，所以得到的是基体和薄膜的综合信息。这从两种峰线有部分重合（虽然强度有很大差别）也可得到这样的结论。
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