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透射电镜（TEM）

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主题：【讨论】如何降低或者消除辐照损伤？

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shxie

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发表于：2005/09/03 16:52:00 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

该帖子已被shxie设置为精华；

大家如果处理一些比较脆弱的样品，比如高分子，有机物晶体，孔材料等物质的时候，或多或少的会让样品受到损伤。无论扫描还是透射，无论低电压还是低真空，都是不可避免的。那么大家能否就自己平日的操作经验来谈谈如何尽量降低这些损伤呢？
不要拘束，只要有道理，就有奖励哦

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shxie

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2005/9/3 16:54:00 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

我来讲两个辐照损伤的例子：
1. 高分子样品：如果是低熔点的，那么电子束从光滑表面扫过的时候就会有明显的皱褶，而快速扫描的话就看不到这种形貌，那么这类皱褶就是损伤
2. 孔结构样品：如果电子束比较亮，你就压根看不到好的形貌和结构，还会得出样品本来就不好就是无定型的错误结论。

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sunkisser

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2005/9/4 5:25:00 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

1.低真空
2.低电压
3.低电流
4.调高对比度和亮度
5.提高样品接地导电性

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oldtiger

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2005/9/4 9:17:00 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

TEM下，可以减小束斑，用较小的物镜光栏和聚光镜光栏。

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shxie

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2005/9/4 11:00:00 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 sunkisser 发表:
1.低真空
2.低电压
3.低电流
4.调高对比度和亮度
5.提高样品接地导电性

很棒！！！

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shxie

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2005/9/4 11:01:00 地板管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 oldtiger 发表:
TEM下，可以减小束斑，用较小的物镜光栏和聚光镜光栏。

呵呵，不错

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shxie

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2005/9/4 11:16:00 6楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

如果SEM加大工作距离能否有效果呢？

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shxie

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2005/9/4 11:17:00 7楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

如果样品是拍高分辨，但怕损伤，用底片拍摄如何操作比较合理呢？

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renxin

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2005/9/5 18:40:00 8楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

很有意思的话题，操作员如果手快的话，样本损伤应该能减小到最低程度。
我在场发射扫描上操作 AU ON C 样本，从打开发射枪到得到 100，000 倍的清晰图像，时间约为一分钟半。

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shxie

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2005/9/5 19:03:00 9楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 renxin 发表:
很有意思的话题，操作员如果手快的话，样本损伤应该能减小到最低程度。
我在场发射扫描上操作 AU ON C 样本，从打开发射枪到得到 100，000 倍的清晰图像，时间约为一分钟半。

您手真快了，赞！

这些我在原创里面其实有提到过，不过不是很详细。

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shxie

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2005/9/5 22:28:00 10楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

真不错，先奖励一下几位讲的到位的，有新答案的朋友还会奖励的:)
另外，除了把电子束斑调弱这一主要方法之外，觉得还应该多考虑样品的观察技巧：比如在不易损伤区域调焦调象散之后，迅速移动到目的区域加大亮度拍照-毕竟拍底片需要一定的亮度才能得到比较高反差的照片。renxin版主说的手法熟练也就包含这么个意思吧。
另外，通过包埋能减少损伤吗？我没有尝试过，有类似经验的朋友讲讲吗？

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