主题:【求助】尼高利ATR附件的使用

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windyboy123
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原文由 sophaloki(sophaloki) 发表:
这个还不知道呢,我们一直在用呢,还没有发现晶体表面有层薄膜,我们的也是380呢!

你们一般测试什么样品啊,塑料薄膜和切削的塑料薄片吗 没有薄膜吗,我们以前用的就是因为测试硬塑料和可能有点黏性的薄膜损坏了晶体。
windyboy123
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原文由 sophaloki(sophaloki) 发表:
这个还不知道呢,我们一直在用呢,还没有发现晶体表面有层薄膜,我们的也是380呢!

你们一般都是测试什么样品呢 我们以前的附件就是因为测试硬塑料和可能带黏性的塑料薄膜损坏了晶体导致附件不能使用。
WANGSJBY
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happyalife
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原文由 WANGSJBY(wangsjby) 发表:
自身带有压力保护吧,旋紧有声音即可了

这要靠个人经验,有的时候压紧的程度确实不太好掌握
happyalife
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要是ATR上面加个灯就好了,压紧自动红灯亮,和红外显微镜一样操作就方便了
happyalife
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原文由 gamst(Gamst) 发表:
我们实验室正想买个ATR附件,想问下各位大侠,ATR附件一般要多少钱啊?
谢谢各位


看你买什么样子的了,一般单次水平全反射价格在3-4万吧。

我这有国产的,不知道满足不满足的要求,我还有它的相关资料有需要跟我邮件联系吧,happyalife521@126.com
sophaloki
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原文由 windyboy123(windyboy123) 发表:
原文由 sophaloki(sophaloki) 发表:
这个还不知道呢,我们一直在用呢,还没有发现晶体表面有层薄膜,我们的也是380呢!

你们一般测试什么样品啊,塑料薄膜和切削的塑料薄片吗 没有薄膜吗,我们以前用的就是因为测试硬塑料和可能有点黏性的薄膜损坏了晶体。

我们也有测塑料薄膜啊,还有复合高分子膜片总的说基本什么都测,只要不能压片测的都想办法用ATR测,我现在不理解所谓ZnSe薄膜破坏了 就不能用了是什么意思。测出来的谱图有什么异样吗,还是基本没有谱图,现在经你这么一说我无法判断我的ZnSe是否有被破坏掉了?
danielydj
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关于ATR附件,一般固体样品不需要制样都可以测量。
需要注意的有以下几点
1 要保证样品表面与晶体表面的可靠接触
2 接触面要平整,必要时可以处理一下
3 一般的ATR附件都有自动保护,不必担心压坏晶体
4 380的用户可以在实验设置中使用预览模式
danielydj
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ATR附件一般用户选用的都是锗晶体(Ge),当然还有选用ZnSe的。Ge的硬度较高,耐磨性比较好;ZnSe的硬度较低,但吸收强度比较高。正常来说如果测量接触面的表面光洁度比较高,比较平整,就没有什么问题。
renxuepia
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采集状态设置为预览,旋紧仪器时适时观察谱图,发现谱图达到分析要求时不再旋紧,以免损坏晶体。
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