主题：IRIS INTREPID ICP-AES的两次曝光的技术说明

关于IRIS采用UV（紫外）/VIS（可见）分开曝光的技术说明

1．由于IRIS Intrepid采用了高分辨分光系统和最宽的波长范围（165-1050nm），扩展的波长范围超出了CID检测器的感光面，因此采用UV（紫外）/VIS（可见）两次曝光的方式。采用UV（紫外）/VIS（可见）分开曝光的方式也更有利于两个波段各自的最佳聚焦。
2．由于ICP光谱在450nm以上波段会产生很强的氩（Ar）背景，在VIS（可见）谱段的谱线测量只需很短的曝光时间（一般为5秒），因此IRIS光谱仪尽管比一次曝光多了一次VIS（可见）波段的曝光，但时间很短（5秒钟左右），且在分析过程中全自动进行。如果样品中不测K、Na，Ba，Sr等长波元素，该仪器也只需一次UV（紫外）曝光。
3．UV（紫外）/VIS（可见）间的切换采用了专利技术（如图）。利用狭缝前的棱形镜的切入和切出，使光分别经过狭缝1（对应测量UV波段）和狭缝2（对应VIS波段）。由于该光线平移的距离只决定于棱形镜的形状，而与机械定位无关，因此有非常好的重复性。这样的切换无需整个光路的移动，稳定性好。

相比之下：PE的4300DV由于采用的是SCD（分段CCD）检测器，为了解决“溢出”问题，在每次测定前必须要增加一次“预曝光”以确定不同强度谱线的不同曝光时间（分4组），且不同的曝光时间组是顺序进行（group sequence）的，即在其每次样品测定时，实际上经历：预曝光+第1组的曝光时间（最强谱线）+第2组的曝光时间（较强谱线）+第3组的曝光时间（较弱谱线）+第四组的曝光时间（很弱的谱线）。当然如果样品中各测量元素的谱线强度相近时，可能只需1-2组曝光时间，但“预曝光”是无法省略的。由此可见，4300DV的每次样品测定同样需要多次的曝光，无非它是软件控制进行，表观上不易察觉而已。另外4300DV本身是双向观察，经常需要垂直方式测一次，水平方式再测一次。
由于4300DV 的SCD检测器之检测单元较大，无法拟合出很好的谱线谱峰，其狭缝是要移动的，在其MSF扣干扰时，必须移动狭缝四次，分别曝光四次，以实现元素干扰校正。此狭缝的移动是真正的机械移动，要引起整个光路移动，相对而言，重复性难于永久保证。
Varian的Vista也是采用CCD检测器，在每次测定时同样也要增加一次“预曝光”，然后分成很多组曝光时间依次顺序曝光（特别是MPX型）。Vista的光栅面积是最小的，其所用级次范围最少（是IRIS和OPTIMA4300的一半），因此其每个级次必须覆盖较宽的波长范围，这就使很多谱线落在中阶梯分光系统的闪耀区之外（中阶梯分光系统的闪耀区域仅在每个级次的中央位置），这些边缘谱线的聚焦和能量均会变差，因此Vista的总体聚焦效果较差，边缘谱线的光学分辨、强度也较差，当然Varian提供的一些谱线的分辨率和检出限均很好，因为这些谱线均是那些“精心挑选”的落在中阶梯分光系统的中央位置的“最佳”谱线。