zeiss 的inlens detector 是不是主要探测SE1信号,而SE2 和SE3信号都被排除了。我看到Software Control LEO 15XX Manual上是这么说的。
原话如图。
可是后来给一个研究primary electron于 半导体 材料或绝缘体 材料的人讨论, 他认为 inlens detector 只能排除SE3, 而SE2和SE1都是能被检测的。
记得版上有zeiss 的专家,能不能给出确切的答案。 另外inlens detector 是不是Jaksch发明的,他应该很清楚吧, 谢谢