主题:【讨论】顶空技术的原理

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1、样品基质可能干扰分析
2、仪器较复杂
3、吸附和解吸可能造成样 品组分的丢失
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静态顶空的原理:
当在一定温度下达到气液平衡时有
                  cg=co/(K+β),
其中: cg :气体样品的浓度
            co:样品的原始浓度
        K 和β:一个给定的平衡系统中, K 和β 均为常数
  即在平衡状态下,气相的组成与样品原来的组成为正比关系。当用GC分析得到cg后,就可以算出原来样品的量
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顶空进样技术基于三个物理定律,这三个定律阐述了有关蒸气汽压,分压及溶剂上空的蒸汽压力与溶剂中的被分析物浓度之间的关系。
道尔顿定律----理想气体混合在一起的总压等于各个组分分压之和。
罗氏定律----在恒定温度下,溶解在一定体积溶剂中的气体或液体量直接正比于溶液上方的蒸汽相的分压。
亨利定律----顶空中一种溶质的分压与这种溶质在溶液中的摩尔含量成正比。
 这三个定律提供了我们放入瓶中的物质与瓶内顶空相中物质之间的关系。一般地,顶空中被分析物的浓度正比于溶液中被分析物的浓度。
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