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原文由 longxinhubao(longxinhubao) 发表:
想请教两个问题：
1、样品折射率如果比晶体大的话是不是就测不了了？又如何全反射呢？
2、样品的扫描信号很弱，最大吸收的下探深度不超过5%透过率，其它位置都非常弱的话，是不是就不适合ATR测或者说不适合我这种晶体的ATR测（ZeSe晶体）
原文由 fyrebecca(fyrebecca) 发表:原文由 longxinhubao(longxinhubao) 发表:
想请教两个问题：
1、样品折射率如果比晶体大的话是不是就测不了了？又如何全反射呢？
2、样品的扫描信号很弱，最大吸收的下探深度不超过5%透过率，其它位置都非常弱的话，是不是就不适合ATR测或者说不适合我这种晶体的ATR测（ZeSe晶体）
理论上来说样品折射率是要比晶体小,不过我个人认为,是否这个界面实际上是晶体和空气之间的界面,因此无论什么样品,只要能跟晶体接触较好,只要有红外吸收,都能检测出信号,除非本身红外活性不够
因为我在实际应用中,无色和有色甚至黑色的材料,只要不是太硬到跟晶体接触差,基本上都有足够的信号.如果是象活性碳或是一些无机物,本身在红外区间就吸收弱,那用其他IR方法也同样很弱
另外不同ATR其信号也有差异, ZnSe 本身是一个不耐压的晶体,比较适合软一些的物质,如高分子的膜或者液体. 如果是用金刚石ATR,比如我们现在用的ITR, 则适合更多的材料,而且信号也很好
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