主题:【求助】关于采谱过程中,峰位发生改变的问题——XPS

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yuansu123456
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大家好,我在做xps的过程中发现,在细扫一个元素的时候,峰的位置发生变化,在低结合能方向会逐渐出现一个峰,由小变大,不知道是怎么回事,请大家帮忙解释些,谢谢了,,,,元素 为 Cd 3d5,如下图(402ev这个峰在数据库中查不到)

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feixiong5134
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想问一下“在低结合能方向会逐渐出现一个峰,由小变大,”这是啥意思?
你的样品中还有啥元素?
yuansu123456
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就是 右边那个 小峰 在第一次扫描的时候没有,第二次就有了,以后每次扫描都会明显长高,四次后 就成这个样子了~~~~~~
查了数据库 Cd不可能跑到402左右去,怀疑是样品不稳定或者仪器电子中和出问题
后来 重新制样测试,就没有这种情况了,只是 这种情况很怪,以前也有出现这种情况
feixiong5134
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后面测试就没有小峰了?
是不是仪器没有稳定的时候你就开始测试了?
xulaoq
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yuansu123456
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应该不是仪器稳定的问题,前面测试的样品没有这个问题,这个样品是最后测试的,,,怀疑是制样没弄好,导致电荷累积造成的
feixiong5134
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cnzxchen
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charging effect不是导致结合能往高移吗,你这是往低移呢
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