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主题：【求助】P S 影响Cr Ni

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2011/3/6 8:30:25 11楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
样品不是绝对均匀状态，光谱分析数据也不太可能每次完全一样，正常现象！
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yushushi
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2011/3/7 17:53:55 12楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 yong-he-123(yong-he-123) 发表:
原文由 yushushi(yushushi) 发表:
可以具体说说你仪器当中的P、S、与Cr、Ni的连带变化情况么？很好奇，想了解下，呵呵。原来没听说过有这类情况发生。

标准值：P是0.033。，S是0.002，Cr是17.49，Ni是8.23。
激发两个点，如果P的值为0.033和0.032，那么Cr、Ni的值就会有变化，两个值之间得差0.1
同样，如果打两个值，S有稍微的变化，Cr、Ni同样也会有差距。
如果打三个点，第一个和第三个点P或S的值一样，那Cr、Ni的值也是第一个和第三个接近。

如果你分析的这块样品是比较均匀的标准样品，那就有如下几种可能了：
1、Cr、Ni的激发电位与P、S相近，这样当激发状态细微变化时，Cr、Ni的变化速度与P、S相近，因此会有这个结果。
2、需要看变化规律是否为一致，是P，S增加0.001，Cr、Ni也增加0.1么？如果变化时相反的，有可能是P、S的曲线设定当中加入了去除光谱干扰的算法，这个算法是用系数乘以Cr、Ni的光强值再相加得到干扰光强，然后在测量光强当中减去计算得到的干扰光强，这样，当Cr、Ni测量结果高的时候，P、S含量会低（如果去干扰算法当中的系数有问题，或者干扰元素加错，会造成你所说的结果）
解决方法是，如果软件允许，尽量去看个通道采集到的原始光强数据，看看他们的变化规律，这样即可确定到底是软件运算产生的问题还是硬件工作状态出现较大波动。
该帖子作者被版主 mlb2003加 2积分， 2经验，加分理由：鼓励回帖
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