主题:【求助】【讨论】???如果上天再给一次机会 你会选择谁

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原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:
原文由 291943731q(291943731q) 发表:
不知道是否考虑TXRF全反射x射线荧光分析仪做地质样品分析?

你能介绍一下全反射仪器吗。有哪些厂家做全反射的仪器了。


转录  请自己 google 搜索  便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章

全反射X荧儿(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术,它突出的优点是检出限低(pgng/mL 级以下)、用样量少(Μlng级)、准确高度(可用内标法)、简便、快速,而且要进行无损分析,成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段,在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看,与质谱仪中的ICP-MSGDMS[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp]原子吸收谱仪中的ETAASEAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内,能谱仪XRF)和波谱仪(WXRF)在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面,都明显比TXRF差。在表面分析领域内,尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中,TXRF已在国际上得到广泛应用。

1. TXRF分析仪工作原理

TXRF利用全反射技术,会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏率,避免了XRFWXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应,大大缩减了定量分析的工作量和工作时间,同时提高了测量的精确度。

测量系统的最低探测限(MDL)可由公式计算:

        (2)

这里, 是木底计数率,t为测量计数时间,M为被测量元素质量,l代表被测量元素产生的特征峰净计数率,S=I/M就是系统灵敏度,由公式可以看出,提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处,因而MDL很低。
金水楼台先得月
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去年冬天
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国产天瑞的也可以吧
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金水楼台先得月
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国产天瑞的也可以吧

用个具体仪器来说说吧
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国产天瑞的也可以吧

用个具体仪器来说说吧


就是X射线荧光光谱仪啊
去年时曾拿了相关资料来我们公司介绍过
无奈价格贵了点老总最终没买
青虫
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国产天瑞的也可以吧

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就是X射线荧光光谱仪啊
去年时曾拿了相关资料来我们公司介绍过
无奈价格贵了点老总最终没买


国产的XRF能量色散技术可以,波长色散就不考虑了。
波斯猫
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使用时间久了,假如再选择,还是选同一品牌,尽管以前使用过程中有过这样那样的苦恼,不过,换个角度看,不也促成了自己的成长么?
再换品牌,一切不都的重新来过?既往积累的硬软件经验不几成白费?
该帖子作者被版主 albert8009222积分, 2经验,加分理由:有道理
金水楼台先得月
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原文由 名字更新中……(liuxuwentiger) 发表:
使用时间久了,假如再选择,还是选同一品牌,尽管以前使用过程中有过这样那样的苦恼,不过,换个角度看,不也促成了自己的成长么?
再换品牌,一切不都的重新来过?既往积累的硬软件经验不几成白费?

这对实验室的传帮带也非常有好处。
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