主题:【转帖】便携全反射X射线荧光分析仪

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全反射
X荧儿(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术,它突出的优点是检出限低(pgng/mL 级以下)、用样量少(Μlng级)、准确高度(可用内标法)、简便、快速,而且要进行无损分析,成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段,在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看,与质谱仪中的ICP-MSGDMS原子吸收谱仪中的ETAASEAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内,能谱仪(XRF)和波谱仪(WXRF)在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面,都明显比TXRF差。在表面分析领域内,尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中,TXRF已在国际上得到广泛应用。


1. TXRF分析仪工作原理:

TXRF利用全反射技术,会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏率,避免了XRFWXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应,大大缩减了定量分析的工作量和工作时间,同时提高了测量的精确度。

测量系统的最低探测限(MDL)可由公式计算:

        (2)

这里, 是木底计数率,t为测量计数时间,M为被测量元素质量,l代表被测量元素产生的特征峰净计数率,S=I/M就是系统灵敏度,由公式可以看出,提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处,因而MDL很低。
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测量系统的最低探测限(MDL)可由公式计算:

        (2)
缺少上传公式哦。
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全反射技术
Total Reflection X-Ray Fluorescence

www.acronymfinder.com/Total-Reflection-X_Ray-Fluorescence-(TRXF).html

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能把你的便携全反射X射线荧光分析仪带来实测看看吗?如果性能确实优于德国SPECTRO 、英国牛津、美国Niton和Innov-X,会考虑购买。
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现在需要的不是王婆卖瓜,停留在广告宣传上。
是骡子是马就不能拉出来遛遛吗?
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