主题：【原创】X射线荧光分析，X射线衍射分析，X射线光电子能谱三者的联系和区别？

原文由 ljzllj(ljzllj) 发表:

原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:

原文由 ljzllj(ljzllj) 发表:

原文由 bennaiyou(bennaiyou) 发表:
貌似我们常见的XRF，XRD，XRS？
共同点：
(1) 属原子发射光谱的范畴；
(2) 涉及到元素内层电子；
(3) 以X-射线为激发源；
(4) 可用于固体表层或薄层分析

XPS涉及的不是内层电子。
XPS和XRF,XRD的分析表层深度相差很远。一个是纳米级，其它两个是微米到毫米级。
XPS做价态分析，XRF做元素成分分析，XRD做物相分析。

XPS不是内层电子，那是？
XPS分析分析 表层深度是纳米级？

化合价与内层电子有关 ？[/quote
化合价跟外层电子有关。明白了。

原文由 bennaiyou(bennaiyou) 发表:
貌似我们常见的XRF，XRD，XRS？
共同点：
(1) 属原子发射光谱的范畴；
(2) 涉及到元素内层电子；
(3) 以X-射线为激发源；
(4) 可用于固体表层或薄层分析

同意这个观点

原文由 ljzllj(ljzllj) 发表:

原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:

原文由 ljzllj(ljzllj) 发表:

原文由 bennaiyou(bennaiyou) 发表:
貌似我们常见的XRF，XRD，XRS？
共同点：
(1) 属原子发射光谱的范畴；
(2) 涉及到元素内层电子；
(3) 以X-射线为激发源；
(4) 可用于固体表层或薄层分析

XPS涉及的不是内层电子。
XPS和XRF,XRD的分析表层深度相差很远。一个是纳米级，其它两个是微米到毫米级。
XPS做价态分析，XRF做元素成分分析，XRD做物相分析。

XPS不是内层电子，那是？
XPS分析分析 表层深度是纳米级？

化合价与内层电子有关 ？

化合价当然是有外层电子的得、失或共有决定的，多基本的道理啊，高中就学过。

原文由 小M(mitchell_dyzy) 发表:

原文由 bennaiyou(bennaiyou) 发表:
貌似我们常见的XRF，XRD，XRS？
共同点：
(1) 属原子发射光谱的范畴；
(2) 涉及到元素内层电子；
(3) 以X-射线为激发源；
(4) 可用于固体表层或薄层分析

同意这个观点

前面讨论，2是错误的。

原文由 hsteel(hsteel) 发表:

原文由 ljzllj(ljzllj) 发表:

原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:

原文由 ljzllj(ljzllj) 发表:

原文由 bennaiyou(bennaiyou) 发表:
貌似我们常见的XRF，XRD，XRS？
共同点：
(1) 属原子发射光谱的范畴；
(2) 涉及到元素内层电子；
(3) 以X-射线为激发源；
(4) 可用于固体表层或薄层分析

XPS涉及的不是内层电子。
XPS和XRF,XRD的分析表层深度相差很远。一个是纳米级，其它两个是微米到毫米级。
XPS做价态分析，XRF做元素成分分析，XRD做物相分析。

XPS不是内层电子，那是？
XPS分析分析 表层深度是纳米级？

化合价与内层电子有关 ？

化合价当然是有外层电子的得、失或共有决定的，多基本的道理啊，高中就学过。

看来基础知识，有时还是重要的。感谢提醒。

X射线衍射仪与X射线荧光仪相似；主要区别：
  (1) 单色X射线源;
  (2) 不需要分光晶体;试样本身为衍射晶体，试样平面旋转；光源以不同 角对试样进行扫描；   

原文由 hsteel(hsteel) 发表:

原文由 pengshaolin(pengshaolin) 发表:
三者区别于样品测试精度，价格、都是X-射线激发样品。

在做仪器分析时，对含量进行定量的时候，往往用测试精确度来表示，X射线荧光光谱仪用精度表示是合适的，因为XRF就是对样品中元素进行定量的。
而XRD，最基本的功能是物相分析，并且仍然以鉴别物相为主，定量这几年发展起来，但定量的准确度不同的使用者有不同的说法，并且XRD近些年来已经不单单是物相分析，拓展的有小角X射线散射，薄膜分析，织构以及残余应力等等，也就无所谓精度不精度了。
XPS主要是做材料表面元素的价态分析，似乎定量并不是主要的。
并不是每台仪器的主要功能都是在元素定量上的。

X射线光电子能谱分析法的应用
(1) 元素定性分析：各元素的电子结合能有固定值，一次扫描后，查对谱峰，确定所含元素(H、He除外)；

(2) 元素定量分析：一定条件下，峰强度与含量成正比，精密度1-2%。
似乎XPS，做定性定量分析还是可以的。

原文由 bennaiyou(bennaiyou) 发表:
貌似我们常见的XRF，XRD，XRS？
共同点：
(1) 属原子发射光谱的范畴；
(2) 涉及到元素内层电子；
(3) 以X-射线为激发源；
(4) 可用于固体表层或薄层分析

是XPS.感谢您的帮助。

原文由 pengshaolin(pengshaolin) 发表:
三者区别于样品测试精度，价格、都是X-射线激发样品。

那激发的原理是一样吗？

原文由 ziru09(ziru09) 发表:
刚接触X射线时间不长，从资料书上经常能看到X射线荧光分析，X射线衍射分析，X射线光电子能谱分析，
总弄不明白，这三者之间有什么区别，又有什么联系呢。请高人指点。

我不是高人，但是愿意回答您的问题，权作抛砖引玉吧。前面有人回答过了，不过我觉得没有答完整，呵呵。

X射线照射在物体表面，会同时发生很多种效应，可以用作不同的用途。比如我们对X射线有比较强的穿透性都很熟悉，这个效应可以用于医院拍摄X光片，或者用于工业上的探伤之类的。

这些效应还包括：
1. X射线激发电子，其实这就是光电效应，分析出射的光电子，可以做元素组成分析。这就是XPS（X射线光电子能谱分析）。特别的是，他可以用来分析元素的价态，因为不同的价态结合能不一样。由于电子在空气中穿透能力很弱，所以XPS都需要配备高真空，什么机械泵，分子泵，离子泵都上了。
2. X射线激发样品发出荧光，类似于手电筒照荧光粉，这就是XRF（X射线荧光分析），可以用来分析元素组成，定性和定量都可以，如果有标准样品，那么定量的准确度可以做到很高。
3. X射线被组成原子散射，在某些特定的方向上会得到衍射加强，这就是XRD（X射线衍射分析），可以用来分析原子在空间的排列，就是所谓的物相分析。也可以定性和定量，不过一般定量的准确度不是很高。

特别让初学者迷惑的是，荧光分析和物相分析有什么不同。举个例子来说，一块钢铁，由于加工工艺的不同，虽然都主要的元素是铁，但是Fe在空间会有不同的排布，有所谓的面心立方晶体或者体心立方晶体的结构。不同的结构对应着不同的机械性能。
如果只使用XRF，我们就只能知道其中有铁元素，但是不知道其分布。如果使用XRD，我就可以知道Fe在空间是如何排列的。这对材料性能的研究很有帮助。但这并不是说，XRD就可以完全取代XRF，两者用途不一样。

最后特别强调，对于某个样品而言，其实这些效应同时发生，这就是楼主问的三者之间的联系。不同的仪器选择了其关心的信号来进行分析。相应的光管啊，检测器啊都不一样，配置也不一样，自然价格也不一样。比如XPS的高真空系统，就会大大推高仪器价格和操作的复杂程度。