主题:【讨论】如何得到能量过滤像

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xuaiqun
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W and C的书第二版P 734,讲:在内置Ω或后置GIF中,为得到过滤像.要平移能量谱,让希望的能量区通过选择狭缝.能谱的平移实际上靠改变透射的加速电压.以使得需要的电子在光轴上. 而刘安生翻译的<材料评价的分析电子显微方法>上P86讲:将狭缝置于特定损失处,得到过滤像. 再看朱静老师的PPT,不巧这方面的内容在最后,好象没有了。感觉后者有道理.如果按前者的说法,感觉改变谱仪的磁场来平移谱更符合物理原理.请朋友们发表高见!谢谢!
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这几种方法都在用,各有利弊,并不是一种方法绝对比另一种好。
sendtony6
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樓上講錯~Ω-filter針對影像上截取有比較好的表現

對GIF而言~EELS-spectrum的截取較佳
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原文由 sendtony6(sendtony6) 发表:
樓上講錯~Ω-filter針對影像上截取有比較好的表現

對GIF而言~EELS-spectrum的截取較佳

你看清楚人家的问题了吗?
黑洞
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原文由 xuaiqun(xuaiqun) 发表:
W and C的书第二版P 734,讲:在内置Ω或后置GIF中,为得到过滤像.要平移能量谱,让希望的能量区通过选择狭缝.能谱的平移实际上靠改变透射的加速电压.以使得需要的电子在光轴上. 而刘安生翻译的<材料评价的分析电子显微方法>上P86讲:将狭缝置于特定损失处,得到过滤像. 再看朱静老师的PPT,不巧这方面的内容在最后,好象没有了。感觉后者有道理.如果按前者的说法,感觉改变谱仪的磁场来平移谱更符合物理原理.请朋友们发表高见!谢谢!


两种能量过滤器都是通过改变加速电压来实现能量平移的呀!当然在平移能量之前要先将狭缝和零峰对中合轴,此后狭缝的机械位置就不动了,当然狭缝的宽度是可以根据需要随时设定的。不可能靠移动狭缝去迎合特定损失峰,很简单想明白,如果特定损失峰是能量损失较大的都已经在CCD取图范围之外了的话,如何还能靠平移狭缝来获得过滤像?
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