主题:【第六届原创】【ICP光谱】沒事玩玩FACT,收穫頗豐的!手把手教你做快速

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Agilent 720-ES ICP-OES的 FACT技术的使用

原理:Fast Automated Curve-Fitting Technique快速自动曲线拟合技术

FACT 是对被分析元素和干扰元素的标样分别进行测量,用所得到的谱图数据进行图形解析,从而将被分析谱线旁边的干扰谱线剥离出去。

采用 FACT wizard, 你需要对被分析元素的标样、空白和干扰溶液进行测量,建立谱形模型。一旦你对每个模型的谱图感到满意后,该模型将被储存在方法中。然后可在该模型中测试 FACT 矫正的效果。 在以后的分析当中,每条被测量谱线将依照其所建立的相应的模型对谱图进行解析。由被分析元素所产生的解析峰将参与被分析元素强度的计算。

  直接光谱重叠的情况下,不可采用FACT,可用IEC处理。模型和分析物检测方法的光学参数要一致,如分辨率。

具体操作实例:金属铁片中总铅的测定。

1.    建立FACT模型:新建工作表,这个不用赘述!做此动作前当然要做下波长校正.

2.    打开“方法编辑器”-“工具”-“矫正”,  左边所添加元素列表将其模式分:点和、FACT,将铅220.353模式选为FACT模式。








很正的峰!漂亮,呵呵!

进干扰物体(此为1000ppm Fe标):



此峰像个马背,呵呵,平淡中自娱自乐下!

模型建成储存工作表单。





六个九,完美!

进样品,读数:



绿色为未剥离的样品峰,干扰很大;红色为干扰元素Fe的峰;黄色即为被测元素Pb 的峰!几乎挨着基线,基本没数!呵呵,收获不少哦!
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zwhyghl
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画面很亲切啊
我还是习惯称其 VARIAN 720-ES。

FACT只是以个卖点,用来测铁中铅,没多大意义。
雨木霖
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zjy365286
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waydn1111
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一直想试试Agilent的FACT和PE的MSF,可惜最后还是买了Thermo的仪器,没有以上功能,但是目前使用起来很好,也没发现有必须使用谱线分离技术的地方
MIU
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chenbboo
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瓦里安的这个东西看起来很好,但是我也没有用过,一般情况好像用不到,实在测不出来就用其他方法,或者能谱分析好了,
绿色的味道
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有人将谱线拟合做得好的人有吗?据说国内没有人在用这个功能。。
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