主题:【讨论】峰位波动性原因讨论?

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依风1986
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通过质控样(QC),来控制仪器漂移,并对工作曲线进行校正,如果分析结果漂移过大,需要查明原因,如下图所示,我们该如何思考?



如上图所示,左边是峰位上下波动,右边是峰位左右波动,大家说说这种稳定性差异原因都有哪些?
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光学系统与进样系统是直接造成以上峰位波动的原因所在,不过具体问题我们要具体对待
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峰位上下移动,这应该属于仪器的正常偏移,可以通过QC校准。应该是进样系统不稳定造成的。
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峰位左右移动,那就是谱线偏移了,应该进行波长校正吧,光路系统的事,这点没有遇到过,请大家讨论,我就抛砖引玉吧
依风1986
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原文由 勤学苦练(wellys) 发表:
峰位左右移动,那就是谱线偏移了,应该进行波长校正吧,光路系统的事,这点没有遇到过,请大家讨论,我就抛砖引玉吧


这个可以认为是光路原因
依风1986
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峰位上下移动,这应该属于仪器的正常偏移,可以通过QC校准。应该是进样系统不稳定造成的。


一般测试都要再工作曲线加质控样QC测,然后样品多少个后也要QC质控
abcpgf
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左右移位那肯定得进行波长校正了,上下移位是干扰的问题吧。
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左右移位那肯定得进行波长校正了,上下移位是干扰的问题吧。


彭工应该碰到过吧!
yangchengh
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峰位上下移动一般是进样系统原因,左右移动就是谱线发生漂移,应该进行波长校正
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依风1986
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原文由 yangchengh(v2658860) 发表:
峰位上下移动一般是进样系统原因,左右移动就是谱线发生漂移,应该进行波长校正


进样系统一般会导致测试样品结果重复性差,如RSD变大,谱线漂移的话那就是光室温度环境或者仪器自身稳定性导致波长漂移,需校正,如果校正不行,问题任然存在,就需要维修仪器了
tang566
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两种波动都与仪器的稳定性有关,只是影响的部件和周期不同,前者也包含谱线的重叠干拢。
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