主题:【求助】溅射氧化铝薄膜的XRDf衍射峰分析?

浏览0 回复3 电梯直达
cailiao_nano990
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵


这是磁控溅射制备的氧化铝薄膜,厚度30-50nm, S1是制备样品,P1是经过750度处理后的样品,想对比变化,可是峰位怎么都对不上啊??  基底材料用的是氧化硅wafer, 请这里的大师兄们给帮忙分析一下吧??? 急啊,老板要我解释呢

小师妹先在这里谢谢大家了!!
该帖子作者被版主 xujun161积分, 2经验,加分理由:鼓励提出新问题! 是70度的峰对不上??
为您推荐
您可能想找: X射线衍射仪(XRD) 询底价
专属顾问快速对接
立即提交
可能感兴趣
大陆
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
watertime
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
XRD用的是什么靶?Cu靶吗?SiO2和Al2O3的pdf卡片都对不上。建议拿样品做SEM的EDS分析,先确定薄膜含有哪些元素再进行标定
qcz9999
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
品牌合作伙伴