《材料结构的电子显微分析》刘文西 黄孝瑛 陈如玉 天津大学出版社
P213页“如果事先对孪晶的参数一无所知,则需要通过下一章介绍的迹线分析,对孪晶面的指数作具体的测定”
P258页 特征平面指数的测定 1.垂直面衍射法 “因此使用此种方法的先决条件是要求通过某些标志能够清楚判断平面是否处于竖立的位置。例如,有两条清晰的迹线;.................这样,当处于垂直位置时,上述各种像形成一条直线。这种迹线分析方法的操作步骤如图9-23,分为四步:(1)倾斜试样,使特征面处于竖立的位置,这时在电镜下观察,惯习面呈一直线;(2)拍摄照片,记录迹线的方位;(3)拍该视场选区的电子衍射照片........在衍射谱的照片上,通过透射斑画出迹线的平行线AB;(4)自透射斑点因出AB的垂线,垂线对应的倒易矢指数,即特征平面的晶面指数。
我现在做的是镁合金样品(六方),需要对孪晶进行标定。
我对上面的论述有几点不理解,请高人指点:(1)根据我看到的文献,对于六方晶系孪晶的标定一般都是通过迹线来确定孪晶面,可是我在电镜下观察只看到孪晶界,一条直线,没看到两条“迹线”啊,是不是我的判断和观察不够仔细?是不是要把孪晶带的两条晶界线当做两条“迹线”,旋转双倾台使这两条线平行于电子束的方向?(2)拍到迹线后,再拍选区电子衍射照片,在这个过程中需要旋转双倾台吗,转到什么位置?
电镜照片见附件
根据文献,上面的倒易矢量g是通过迹线来确定的,可是怎么判断两条迹线(看不到?)平行于电子束的入射方向?
还有,对于较复杂的衍射谱如何判断是否有两套斑点,有什么简单易行的方法么?
请高人指点一二,如果我的理解有错误,请指教。
谢谢!