主题:【第六届原创】(十月)有机会聆听同行专家的话,定会受益不浅!

浏览0 回复8 电梯直达
刘彦刚
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    我利用到南京休国庆假的机会,拜访了计量技术委员会理化专业委员会副主任委员蔡老师。向他说起我发表在《计量技术》2010年第7期的《紫外、可见分光光度计杂散光检定的建议》一文,文中提到:某小厂生产的指针式光栅型可见分光光度计,没有按常规定型号为722型,而定型号为721A型(该厂将数显式光栅型可见分光光度计定型号为721B型),对于光栅型可见分光光计,按现行检定规程应在360nm处检定杂散光,经检定此处杂散光为0.0%;但是在420nm处检定发现:此处的杂散光竟然达到12.0%之大,远超过了现行检定规程,规定的杂散光计量性能的合格要求。
    本想之所以会这样是因为:为消除光栅次级重叠现象,卤钨灯与聚光镜间加有滤光片组。如有用四块滤光片组成,对于不同给定的工作波长,使用不同的滤光片消除次级重叠现象。而分光光度计杂散光的产生,除制造不良外,光学元件表面的灰尘和霉变是产生杂散光较主要原因。因为不同波长使用的消除次级重叠现象滤光片不同,当滤光片组中的各滤光片表面清洁程度不同,完全有可能在不同波长情况下,产生的杂散光不同。
    但是蔡老师说:对于入射狭缝之前消除次级重叠现象滤光片上的问题,对杂散光的贡献很小。听老师这样一说,我恍然大悟。是哦,因为在入射狭缝之前的光本来就是复合光,滤光片表面清洁程度应该只影响能量的大小,而不会成为杂散光的原因。而且从棱镜型和光栅型分光原理上可以看出:



    不同波长时,只是棱镜或光栅的角度不同,其余没有什么变化,也就是说:按理杂散光并不会因为波长不同而不同。但是,为什么样会出现上述对于光栅型可见分光光度计,360nm处检定杂散光,经检定此处杂散光为0.0%;但是在420nm处检定发现:此处的杂散光竟然达到12.0%之大,远超过了现行检定规程,规定的杂散光计量性能的合格要求的情况?这可是我实际工作中,多次遇到的不同波长杂散光不同的实例之一哦!这也是我当时会思考该问题,并写该文的原因。我当时因为没想到该问题,而没能向蔡老师请教其原因,现向各位版友讨教!
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经过认真细致的思考,使我终于认识到:虽然消除次级重叠现象滤光片上的灰尘和霉点不是杂散光的诱因。但是,不管是棱镜还是光栅,其同一制造不良状态,在不同角度时(即分光光度计给出不同波长时)造成的杂散光,完全有可能不同;就是同一的表面积尘和有霉点的状态,在棱镜或光栅处不同的角度时,造成的杂散光,也完全有可能不同;特别是由于单色器内光的非人为的反射和散射更是有可能由于棱镜或光栅处不同的角度时,造成的杂散光不同。总之,分光光度计不同波长时,杂散光完全有可能是不同。
colindrj
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本来在不同波长下的杂散光就是不同的,你可以看很多公司的标准,用滤光片(比如uv39)和用碘化钠的就不一样。
刘彦刚
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原文由 colindrj(colindrj) 发表:
本来在不同波长下的杂散光就是不同的,你可以看很多公司的标准,用滤光片(比如uv39)和用碘化钠的就不一样。

是哦!所以我提出:规程规定对于可见分光光度计只在360nm(或420nm),对于紫外可见分光光度计只在220nm和360nm(或420nm)检杂散光是不够的!
穿越时空
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