主题:【求助】镁合金中的Si为什么偏低?

浏览0 回复6 电梯直达
19栋
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我们用的X荧光光谱仪是岛津1800,当测试镁合金样品时,与化学方法比较,测试的Si的含量偏低,比如化学方法测试是7.85,而用荧光测试是7.26,不知道什么原因?镁合金的曲线是新做的,而且也进行了校正,数值还是偏低,请各位指教.
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是不是曲线没做好?另外,样品是如何前处理的,也就是表面怎么处理的?
金水楼台先得月
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原文由 名字更新中……(liuxuwentiger) 发表:
其他元素有没有变化?如有,趋势相同吗?

说的对,其他元素呢,
qcz9999
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除上面几位的意见外,也要考虑两种方法之间是会有一定的误差,不可能完全一样
19栋
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其他元素没有变化,就是Si低,制样方法是在砂纸上打磨,应该没问题,因为这是标钢,和另外一家的设备作出的值有差别,用化学方法作出的值和另外一家的一样,而我们这台就偏低,所以我觉得应该是我们的有问题,但不知道是什么原因
波斯猫
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是工作曲线法还是SFP法?另外,7.85—-7.26的单位是WT%还是PPM啊?
如果是工作曲线法,又只是单一元素变化的话,应该主要分析曲线的问题了,建议检查下曲线里SI元素的拟合系数,如果是SFP法,受其限制,那这个结果貌似也不是很离谱的说……
该帖子作者被版主 albert8009222积分, 2经验,加分理由:建议很好
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