主题:请教一下ICP的方法捡出线怎么做?

浏览0 回复71 电梯直达
xiaoxiaoniao
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不好意思了,其实我也是一知半解的,不过我是做过检出线的,不过那是纯钼中杂质分析,基体成分单一,还是比较好找的,谢谢指教了
沉舟
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原文由 shaweinan 发表:
原文由 yb860525 发表:
  在测样时,没有空白溶液,没有空白基体(被测元素为0),咋办?得用其他的公式


  用18兆欧的高纯水配成样品空白的水溶液,重复测定,求出标准偏差,然后算出检出限,进而根据样品的处理过程求出方法的检出限。


是在新建方法未做标准化时做,(谱线和背景要先选择好吗?)
还是随便在什么方法下面做(一般已有的方法已默认上次的标准化曲线,背景也调好了的)
上面两种情况应该会有区别的。
shenyuegyl
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那么,到底怎么由仪器检出限反算方法检出限的呢?
strings
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方法捡出限的空白和仪器捡出限的空白不一样。方法捡出限的空白必须用不含待测元素的样品(基体尽可能与样品一致)按照方法走一遍。
kantian2006
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做牛做马
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方法检测线就是:每个方法的matrix读10-20遍,求其SD,然后乘以3就可以了。
tangcomein
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方法检出限不是应该是样品空白测定10-20次,算出SD值后,乘以3,再乘以10么??
只用SD乘以3的是仪器的检出限吧?
中国龙
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的确,上面说的都是仪器的检出限,方法的检出限不能简单的用仪器检出限乘以50。
我同意上面小小鸟说的。
对于基体匹配的方法,应该用高纯基体来做检出限,不过我觉得,我们要的是标准偏差,基体里的杂质含量只要到仪器检测不出来就可以了,纯度未必要达到六个九,四个九就差不多了吧。
至于复杂基体,无法基体匹配的话,因为有复杂的基体效应和光谱干扰等,似乎没有好的办法做方法的检出限。事实上当样品的杂质含量低于或接近检出限时,分析结果的相对 误差非常大,我觉得可以用这样的样品来做检出限,作为方法检出限的参考,要注意的是,如果样品的组分发生了变化,方法的检出限也会随之变化。
shaweinan
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原文由 wenxina 发表:
的确,上面说的都是仪器的检出限,方法的检出限不能简单的用仪器检出限乘以50。
我同意上面小小鸟说的。
对于基体匹配的方法,应该用高纯基体来做检出限,不过我觉得,我们要的是标准偏差,基体里的杂质含量只要到仪器检测不出来就可以了,纯度未必要达到六个九,四个九就差不多了吧。
至于复杂基体,无法基体匹配的话,因为有复杂的基体效应和光谱干扰等,似乎没有好的办法做方法的检出限。事实上当样品的杂质含量低于或接近检出限时,分析结果的相对 误差非常大,我觉得可以用这样的样品来做检出限,作为方法检出限的参考,要注意的是,如果样品的组分发生了变化,方法的检出限也会随之变化。


  既然你认为上面说的都是仪器的检出限,那首先你认为什么是检出限?基体是什么?基体在什么时候可以达到四个九或六个九?
peter
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原文由 shaweinan 发表:
  我不知道该怎样说得更详细,现举个例子说明:假如在样品处理时称取了1.000g的样品,消解后用酸性水溶液(如5-10%的HCl或HNO3)定容在50ml的容量瓶中,那么配置同样的空白,通过分析校正曲线测出其浓度值(ICP发射光谱的线性范围很宽,有5,6个数量级,空白溶液的浓度可根据测出信号由分析校正曲线的斜率得到),求其标准偏差,然后将结果乘以3再乘以50就是这种分析方法的检出限。如果我没记错,仪器检出限是根据国际纯粹和应用化学联合会推荐给出的,其定义为能够以一定的置信水平测出的最小分析信号所对应的分析物浓度。ICP发射光谱之所以能够比较容易地求出检出限,是因为它的线性范围宽,其响应在检出限附近也是线性的。将空白溶液分析信号的标准偏差乘以3作为最小分析信号的置信水平,对于严格单测高斯正态分布是99.6%,对于误差分布曲线变得较宽而且不对称的非高斯分布大约为90%。以前也有用2的,但置信水平要低得多,现在基本不用了。



版主说的太精彩了!我非常同意您的看法!
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