主题:【原创】【线上讲座167期】关于X荧光光谱分析中存在的一些误区

浏览0 回复125 电梯直达
可能感兴趣
云☆飘☆逸
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
zhangjiancn老师您好!我有以下问题想请教:
XRF测定铁矿石中的全铁用什么方法?
该帖子作者被版主 ljhciq3积分, 2经验,加分理由:鼓励提问
zhangjiancn
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 云飘西风落(denx5201314) 发表:
请教下对于一般的合金粉末样品,粒度一般要求多少?180目左右吗?


对于不同合金要求的粒度是不一样的,测量的元素越轻,对粒度的要求越严格。
该帖子作者被版主 ljhciq3积分, 2经验,加分理由:鼓励
云☆飘☆逸
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 zhangjiancn(zhangjiancn) 发表:
原文由 云飘西风落(denx5201314) 发表:
请教下对于一般的合金粉末样品,粒度一般要求多少?180目左右吗?


对于不同合金要求的粒度是不一样的,测量的元素越轻,对粒度的要求越严格。

能具体给出一些实际案例吗?
该帖子作者被版主 zhangjiancn3积分, 2经验,加分理由:鼓励
云☆飘☆逸
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 zhangjiancn(zhangjiancn) 发表:
原文由 yonglinxu(yonglinxu) 发表:
ZHANGJIANCN老师说X荧光光谱仪适合于高含量分析,而不适合微量元素的分析,析,请教下多低的含量荧光做的效果就不好了呢,高的情况下能做到多高,比如纯铜,九十多的可以定量吗?谢谢


对于高含量,如果样品不是特别杂,一般绝对误差可控制在0.2%左右是没问题的。所以应该能测。

是用差减法还是直接测定?因为差减和直接测定有的时候差距还是很大的?
该帖子作者被版主 ljhciq3积分, 2经验,加分理由:鼓励提问
zhangjiancn
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 lzy20050916(lzy20050916) 发表:
zhangjiancn老师您好!我有以下问题想请教,
请问:

1、制备粉末压片的方法:

    a、铝杯法,随机误差大,

    b、硼酸衬底法误差更大,一次偶然的参观,发现了

    c、粉末塑料环法的优势,—— 能否详细说说?

主要是由于样品在铝杯压样时,铝杯的变形是不一致的所以压力不一样,密度也就不一样了,表面差距就大。硼酸就更难控制了因为现在提供的硼酸衬底模具有缺陷,我们根本没办法控制其一致性。
该帖子作者被版主 ljhciq6积分, 2经验,加分理由:鼓励
zhangjiancn
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 秋月芙蓉(ljhciq) 发表:
zhangjiancn老师您好!我有以下问题想请教,
X荧光光谱为固体直接进样,请问有机物和无机物,在XRF检测中有差异吗?哪个更准?

对于有机物来说,由于没办法测量其有机物(碳水化合物)的含量,所以就没办法测准,例如塑料中的无机物的测定,必须有标样,且分布均匀,才能分析,事实是很难保证的。我曾经测量过煤中无机物的含量,其准确度无法与煤灰分测量结果相比较。
该帖子作者被版主 ljhciq5积分, 2经验,加分理由:鼓励
zhangjiancn
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 云飘西风落(denx5201314) 发表:
zhangjiancn老师您好!我有以下问题想请教,
c、粉末塑料环法相比其他方法有优势吗?有和其他2种方法的比较数据吗?


我过去就是采用的铝杯的方法,误差很大的;现在只采用塑料环的方法,我可以给你提供塑料环的精度数据。
该帖子作者被版主 ljhciq3积分, 2经验,加分理由:鼓励
zhangjiancn
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 云飘西风落(denx5201314) 发表:
zhangjiancn老师您好!我有以下问题想请教,
"分析钼铁中60%左右的钼,误差不超过0.2%",如果实现,怎么操作的啊?


哦我是采用高频感应重熔法,国内较少用。
该帖子作者被版主 ljhciq2积分, 2经验,加分理由:鼓励
zhangjiancn
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 生于八零年代(love418wh) 发表:
zhangjiancn老师您好!我有以下问题想请教,
我想请教对于金属的测试中如何在无基体匹配的情况下如何更准确的测试?同时对各个滤光片的选取的怎么样的?


一般来讲,就是对生产样品采用其他方法分析,得到你需要分析的基体样品的数据作为校准值,然后可以点带修正。对于滤光片,如果强度太高的话,可以适当降低分析功率,除非你对分析背景强度有要求。
该帖子作者被版主 ljhciq8积分, 2经验,加分理由:鼓励
zhangjiancn
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 云飘西风落(denx5201314) 发表:
zhangjiancn老师您好!我有以下问题想请教:
XRF测定铁矿石中的全铁用什么方法?


铁矿石中全铁的测量,过去常采用钴内标的方法,也是日本的方法。我不采用,因为不能解决价态的影响。我采用的方法是将样品分类的方式,效果很好。
该帖子作者被版主 ljhciq5积分, 2经验,加分理由:鼓励
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
品牌合作伙伴