主题:【求助】瓦里安方法上编辑的细节问题

浏览0 回复4 电梯直达
依风1986
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
瓦里安方法上编辑的细节问题,如附件所示,在背景矫正模式,每峰点数上如何设置,设置不同,在谱图上有什么区别?

为您推荐
您可能想找: 气相色谱仪(GC) 询底价
专属顾问快速对接
立即提交
可能感兴趣
damoguyan
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
你更换不同方式区别不大的,主要是峰要对称,表明没有干扰,怎么选都可以,因为你改一个数据,这条谱线的标线和样品全都变了
依风1986
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 damoguyan(damoguyan) 发表:
你更换不同方式区别不大的,主要是峰要对称,表明没有干扰,怎么选都可以,因为你改一个数据,这条谱线的标线和样品全都变了

基本上你在每峰点数上 左,右如何设置的?
doraemon
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
背景校正模式中Fitted以下的模式是非常常见的谱图背景干扰处理方式,都属于离峰矫正。
软件默认的矫正模式是点和中的fitted模式,这个fitted是软件考虑干扰信号及被测元素信号综合后获得的信号,如果所测元素波长有所偏移,软件就认为是干扰造成的,就会适当的往干扰方向移动。
当然,我们也可以选择将谱线上红色H向峰的方向移动,但我认为那样并不是特别好,软件已经给我们提供了一个不错的矫正方式,要移动的话倒不如选择不矫正呢。
软件中最好的背景矫正方式应该是使用FACT,在点和处下拉就可以选择这种方式了。
当然,要用IEC也是可以实现的。
依风1986
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
品牌合作伙伴