edge contrast 在 HRSTEM 里主要是由样品最初的几个纳米厚度决定的。
这可以从bandpass filter 的半径调整来比较,俺弄了弄,确实如此。
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半径从25 到500, 加上原像,几处边缘点的标准方差在0.003和0.016nm间。
对于HRSTEM上的较模糊的边缘,可以通过bandpass系列平均(比如半径从25到100) 来非常近似地确定。
fft中心斑外的reflex, 对edge contrast 的影响可忽略。
wiener filter 会带来较大的波动,在检测边缘时,应该放弃。
在PPA,GPA里,俺都是反对使用的。实在要用,也该有个滤波后的"回馈".
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wiener 的变调很明显,aaa.......................tsche!
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上面三幅,还是很有品位的嘛。
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有兴趣的可以细细地挖一挖,有没有什么组合拳之类的,加以改善。
其他的edge detector, 在俺看来,并不适用于TEM/STEM.