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mxchen1215
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发表于：2012/08/09 13:49:21 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
【题名】An inversion method for the complete characterization of transparent film-absorbing substrate systems using multiple
                angle ellipsometry

[作者] T. Easwarakhanthan; Z. Ouennoughi ; S. Ravelet
[刊名] Solid-State Electronics
[卷期] 35 (6) 1992/06/01
【链接】http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/003811019290288N
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2012/8/9 14:16:45 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
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