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原文由 rose802 发表:
我刚刚接触电镜，现有个基本的问题想请教各位。
一，我看了本网推荐的《TEM例行操作（JEOL2010 Alignment）》，其中第十条说到了物镜消像差调整，不太明白使小洞或突起物一半在under focus状态另一边在overfocus状态指的是什么，我是以一突起边缘作参照的，具体是在碳膜上滴上含纳米粒子的溶液，突起边缘就是溶液的边界，好像无法同时做到一边是亮线一边是暗线。
二，当我用focus 把边缘的白线或黑线调消失的时候，为什么傅立叶自动消像散器的FFT图像反而不成椭圆型了，这样到底是调好了还是调差了？
三，昨天听一个老师说当把DV置于零后，他就不用focus聚焦了，而是用Z轴来调，我试了试，轻轻按一下Z轴键，图像（边缘)就跑出屏幕之外了，我的放大倍数是400K倍，用电视屏幕来观察的。
不好意思，问题有点多，请大家多多帮忙。
原文由 rose802 发表:
谢谢指教。看了这个帖子，你所说的“用非晶调整物镜像散”是指帖子中说的“高倍率我喜欢看无定形膜边缘，最后是C颗粒看起来圆润，不过这个要找感觉才是，而且没有live fft准确”吗？对于无定形膜边缘的调整标准又是怎样的呢？和菲涅尔纹一样，都是调到亮线和暗线同时消失吗？
另外，用自动消像散器时，往往得不到任何环或椭圆，这是否与整个系统的对中等有关，哪些因素主要些？我自己觉得是不是聚焦比较关键，因为我在改变聚焦时，FFT的图像就会随着改变，随着聚焦的不同，环或椭圆时而出现，时而消失。
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