主题:[求助]求透射电镜 截面样品的制作

浏览0 回复21 电梯直达
lijingcow
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该帖子已被ustb设置为精华;
本人 虽下载了 王凤莲 老师的 TEM样品制备技术 的 课件,有了一定收获,但觉得 课件讲的 还不够 详细。
由于本人从未接触过电镜,故希望 能看到 更为 详细的 截面样品 制备的 说明。
本人的样品是 蓝宝石上外延生长的GaN LED管芯,希望 拍个截面照片 以看到 各个外延层及多量子阱等 结构。
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天黑请闭眼
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lijingcow
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我的样品 是 蓝宝石上外延生长的GaN 发光二极管芯片,我想做透射
电镜获得样品 的剖面像,即观察各个外延层。

我只知道制作透射电镜样品时要先对样品进行减薄,然后要进行钉薄,之后还要进行离子束减薄,最后在减薄的区域用电镜观察。

我不知道 减薄的方向 应该是 如附件中 图2所示还是 应该如图3所示?两种方向减薄后,似乎都能 暴露出 样品的截面。

希望 做过 类似 样品的 高手 指点 一下,不胜感激!
lijingcow
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zjcybo
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ustbedu
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你说的就是要做cross- section?
你的问题解决了么?我也要做这方面的式样,发愁阿,以前从来也没做过电镜
而且我的试样很薄,厚度只有100微米
sma
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ustbedu
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原文由 sma 发表:
你可以参考附件中所说的方法,其中tripod polishing,据说不错
TEM试样准备


谢谢你了!
怪味陈皮
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maxiaoye
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我做过硅基底的,透明薄膜的截面TEM分析,具体的步骤是:先用一种不怕丙酮的胶把两片约1.5mm*4.5mm大小的膜对粘起来,用小夹子夹紧在加热炉上放两个小时。然后把它粘在一个刚托上,两边站上玻璃配片,然后开始磨,磨到一定的程度再抛光,另一面也作同样的工作,最后整个对结膜约几十个微米厚。做完后把它粘到合适的铜环上,再用离子减薄机减薄。减薄到用放大镜看有大面积的透光即可拿到电镜上作分析了。
ustbedu
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