主题：【求助】耐驰DSC关于基线漂移参数的验收问题

原文由 tutm(tutm) 发表:
与TA的Tzero有些类似，都是要在安装专门的DSC传感器后才能有此功能，但做法有些不同，因此原理上应该也会有些差异。

这种处理技术是由高灵敏传感器硬件和热阻补偿处理软件结合起来的，应该不是虚假的。

原文由 sisyphus780(sisyphus780) 发表:

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与TA的Tzero有些类似，都是要在安装专门的DSC传感器后才能有此功能，但做法有些不同，因此原理上应该也会有些差异。

这种处理技术是由高灵敏传感器硬件和热阻补偿处理软件结合起来的，应该不是虚假的。

但是按照一般人的理解 基线漂移 应该是直接测试一个空白得到的吧？

不对吗

原文由 KK-yiqi(zhengkang) 发表:

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原文由 tutm(tutm) 发表:
与TA的Tzero有些类似，都是要在安装专门的DSC传感器后才能有此功能，但做法有些不同，因此原理上应该也会有些差异。

这种处理技术是由高灵敏传感器硬件和热阻补偿处理软件结合起来的，应该不是虚假的。

但是按照一般人的理解 基线漂移 应该是直接测试一个空白得到的吧？

不对吗

按理说，合同中规定的这么具体，应该按合同做。他们提供的应该是公司的统一规范，二者不矛盾呀。

原文由 sisyphus780(sisyphus780) 发表:

原文由 tutm(tutm) 发表:
与TA的Tzero有些类似，都是要在安装专门的DSC传感器后才能有此功能，但做法有些不同，因此原理上应该也会有些差异。

这种处理技术是由高灵敏传感器硬件和热阻补偿处理软件结合起来的，应该不是虚假的。

但是按照一般人的理解 基线漂移 应该是直接测试一个空白得到的吧？

不对吗

原文由 sisyphus780(sisyphus780) 发表:
最近我们对新购的耐驰DSC进行验收，

原来招标文件中有一条要求：“基线漂移在-50至300℃，10℃/min条件下，±10μw”

请问对该要求怎么样进行验收的呢？所谓基线漂移究竟是如何做出来的？

耐驰工程师是使用他们的所谓Beflat方法：大概是测试4个不同升温速率下的空白基线，然后计算得到一条漂亮的基线，所得基线的最大最小值之差能满足招标参数要求。

请问这样操作是所谓的“虚假的平滑处理”吗？还是真有其科学道理？

TA公司的DSC用的Tzero基线校正是否跟耐驰的本质上类似呢？

谢谢大家指教哦

原文由 sisyphus780(sisyphus780) 发表:

原文由 KK-yiqi(zhengkang) 发表:

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原文由 tutm(tutm) 发表:
与TA的Tzero有些类似，都是要在安装专门的DSC传感器后才能有此功能，但做法有些不同，因此原理上应该也会有些差异。

这种处理技术是由高灵敏传感器硬件和热阻补偿处理软件结合起来的，应该不是虚假的。

但是按照一般人的理解 基线漂移 应该是直接测试一个空白得到的吧？

不对吗

按理说，合同中规定的这么具体，应该按合同做。他们提供的应该是公司的统一规范，二者不矛盾呀。

但是在招标文件中是这样写的啊“基线漂移在-50至300℃，10℃/min条件下，±10μw”

没有具体规定啊

比如怎么做出基线漂移，不同厂家有不同的做法吧

原文由 butterflygys(butterflygys) 发表:

原文由 sisyphus780(sisyphus780) 发表:
最近我们对新购的耐驰DSC进行验收，

原来招标文件中有一条要求：“基线漂移在-50至300℃，10℃/min条件下，±10μw”

请问对该要求怎么样进行验收的呢？所谓基线漂移究竟是如何做出来的？

耐驰工程师是使用他们的所谓Beflat方法：大概是测试4个不同升温速率下的空白基线，然后计算得到一条漂亮的基线，所得基线的最大最小值之差能满足招标参数要求。

请问这样操作是所谓的“虚假的平滑处理”吗？还是真有其科学道理？

TA公司的DSC用的Tzero基线校正是否跟耐驰的本质上类似呢？

谢谢大家指教哦

TA的Tzero校正是计算参比与样品端的热电偶的电容、电阻随温度的关系，及校正的是系统不对称的误差。校正后再测试空白基线，看-50~300度基线最大与最小值的差值。但不知道跟Beflat有无本质的差异，不过我认为不管怎样校正仪器，基线的动态漂移都应该是校正后在标准的实验模式下测到的曲线，而不能再进行各种计算了。