主题:【求助】能谱图中有明显峰的存在,但成分中无该元素

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fengyonghe
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原文由 top_lamp(top_lamp) 发表:
Si 的K峰:1.740KeV
B:0.183Kev
C:0.277KeV

从楼主贴出的图片来看,Si峰位置在1.740KeV,可以看出X轴的一格代表0.1KeV。如果不考虑该设备的谱峰飘移,那么再看谱图未标出的峰,很明显不是B。



很遗憾是我把标尺看错了。
fengyonghe
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polylij
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gsys
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计数率只有140cts,且拟合的峰很多不匹配,出现这种问题在所难免。是不是样品严重高低不平或者束流过小,要调整检测状态才能得到正确结果。
fengyonghe
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原文由 gsys(v2664607) 发表:
计数率只有140cts,且拟合的峰很多不匹配,出现这种问题在所难免。是不是样品严重高低不平或者束流过小,要调整检测状态才能得到正确结果。


是啊,先没注意这个问题。计数率是cps,那个140cts是测试结束后纵坐标的最高值,可见计数率之低。计数率要达到1500cps左右才能得到正确测量结果。
maxin2009
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原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:
原文由 gsys(v2664607) 发表:
计数率只有140cts,且拟合的峰很多不匹配,出现这种问题在所难免。是不是样品严重高低不平或者束流过小,要调整检测状态才能得到正确结果。


是啊,先没注意这个问题。计数率是cps,那个140cts是测试结束后纵坐标的最高值,可见计数率之低。计数率要达到1500cps左右才能得到正确测量结果。


我有个问题请教哈:峰很高,但是不能自动识别,到底是1.CPS不够呢,还是2.峰背比不够呢?我想不出第三种来。请专家指点。
maxin2009
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原文由 gsys(v2664607) 发表:
计数率只有140cts,且拟合的峰很多不匹配,出现这种问题在所难免。是不是样品严重高低不平或者束流过小,要调整检测状态才能得到正确结果。


是啊,先没注意这个问题。计数率是cps,那个140cts是测试结束后纵坐标的最高值,可见计数率之低。计数率要达到1500cps左右才能得到正确测量结果。


我有个问题请教哈:峰很高,但是不能自动识别,到底是1.CPS不够呢,还是2.峰背比不够呢?我想不出第三种来。请专家指点。


此问题和"140CTS “无关,我只是泛泛的问,还请具体问题具体分析。
gsys
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fengyonghe
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小M
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原文由 polylij(polylij) 发表:
原文由 asahi42(asahi42) 发表:
截个谱图上来看看?


真是CPS太小了
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