原文由 xdd1987(xdd1987) 发表:原文由 penguinle(penguinle) 发表:原文由 天黑请闭眼(shxie) 发表:原文由 penguinle(penguinle) 发表:
我记得03年左右Browning组里就用2010F看到Si的110了,1.4个A的,F20看到也不奇怪。仪器写的都是验收值,调试的好分辨率会高些的
这是说看人品,还是说一般都能比较高?我们型号和陈老师的一样,但愿也能有此水平拍到这么高分辨率的照片。
不是看人品,看电镜工程师的能力,如果他有能力把电镜给你push到极限,你只需要多点经验就可以了。就像第一代Titan,分辨率是1A,但是很多都可以到0.8A一样到。
还是需要摸索。楼上能调出这个水平不?
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我记得03年左右Browning组里就用2010F看到Si的110了,1.4个A的,F20看到也不奇怪。仪器写的都是验收值,调试的好分辨率会高些的
这是说看人品,还是说一般都能比较高?我们型号和陈老师的一样,但愿也能有此水平拍到这么高分辨率的照片。
不是看人品,看电镜工程师的能力,如果他有能力把电镜给你push到极限,你只需要多点经验就可以了。就像第一代Titan,分辨率是1A,但是很多都可以到0.8A一样到。
还是需要摸索。楼上能调出这个水平不?
当然,我就是在那里调出来的,才知道工程师的水平有多重要。
300kv的比200kv的容易很多,10年前用2010F拍出来的,现在TF20可能也很难做到。当然环境需要做到很好,工程师技术也很重要,国内FEI的环境做的比较一般,因此我觉得TF20应该很难排到1.37A的分辨率(我指从图像看出dumbell,而不是通过FFT)
原文由 大布口袋(taboo) 发表:
这张是在不带Probe corrector的Titan上拍的Si dumbbell (0.136nm)
原则上 STEM的成像条件跟TF20 差不多 只是系统的稳定性更好一点 所以TF20上出0.16nm的HAADF像还是很可行的原文由 大布口袋(taboo) 发表:
原则上是可行的 这个除了跟工程师的能力有关 还有就是需要场地非常好 不能有扰动