主题:【求助】关于WD原理以及仪器工作的三个不解

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原文由 白水山石(tianzhen) 发表:
一、只要X射线的波长足够短,将会激发受激元素的所有线系。但在能够激发最内层电子也就是K层时,则首先的K线的几率最大,谱线强度最高。如果降低X射线的强度,使其不能激发K系谱线,则L系谱线产生的几率最大,外层其它的线系也同样会产生,但其产生的几率较低,所以强度较低。
二、布拉格方程说明,只要级次与波长的积相同,就一定会在相同的角度下出峰,所以是不好分辨的。
三、对WDX来说,样品固定不动,Theta-2Theta扫描,也就是说晶体转Theta角时,探测器要转过2Theta角,永远保持探测器与样品的角度是2Theta。


理解,学习了。
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1.    原子结构上,电子离核越远越不稳定,在连续X射线照射时,为什么外层的电子没有击出而是内层的电子击出,外层向内层跃迁才产生特征X射线?

都会被击出,激发内层电子需要更高的能量。但X荧光只关注内层电子被击出后发生的情况。

7楼的我认为是在足够大的激发能量下,都会产生荧光,内层电子受到原子核的引力初始动能更低,就更容易激发。
enuo
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1.    原子结构上,电子离核越远越不稳定,在连续X射线照射时,为什么外层的电子没有击出而是内层的电子击出,外层向内层跃迁才产生特征X射线?

都会被击出,激发内层电子需要更高的能量。但X荧光只关注内层电子被击出后发生的情况。

2. 某个角度,满足布拉格公式的某个波长的特征X光在衍射侧相互叠加光线加强才被检测器检测到进而测的其含量,其他波长的光因为不叠加而减弱,所以不被检测到,此是XRF定性的原理吗?假如某个光的波长是另外一个的整数倍的话,在衍射侧也应该是加强的,也应该被检测到,两种元素的特征光混淆了?

如果刚好整数倍的话肯定无法分开。但波散分辨率很高,且3次以上的高次线能量非常低,基本可以忽略。上面回答的As和Pb不是你问的这个问题。

3 关于测角仪 测角仪在工作时,只是晶体在转动,对吗?那么晶体在转动时,角度是先从小到大,然后返回,如此Z型往复转动,还是每次都是从小角度转动大角度?方法确定后,每个元素的衍射角是不是都已经告诉仪器了?

晶体和探测器都转,就是theta和2theta。怎么转这个和厂家的设置有关,一般来说按元素序数依次来测。

XRF新手,欢迎指教讨论,有此方面的专业书籍吗?谢谢


还是第2个问题,正好是整数倍的意思不就是n*波长=2d sin*角度,中的n么?

这个是用PHA分开的


有道理。无法光学分辨,但可以能量分辨。
enuo
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原文由 洗衣机洗碗(yyj) 发表:
1.    原子结构上,电子离核越远越不稳定,在连续X射线照射时,为什么外层的电子没有击出而是内层的电子击出,外层向内层跃迁才产生特征X射线?

都会被击出,激发内层电子需要更高的能量。但X荧光只关注内层电子被击出后发生的情况。

7楼的我认为是在足够大的激发能量下,都会产生荧光,内层电子受到原子核的引力初始动能更低,就更容易激发。


内层电子稳定,意思就是不容易被改变。同自由电子比较,外层电子更接近这种状态,所以更容易变为自由电子。从能级结构上,激发内层电子需要更大的能量。具体被激发的几率比较,没研究过。
jbjtzxhys
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第二个问题,确实有2级射线干扰,比如测P时就有Ca的二级射线干扰,通过软件计算扣除干扰。
第三个问题,看厂家怎么设置。我用的布鲁克的,可以自己设定测量顺序。默认是高能量射线优先,但是按角度顺序测量更快。
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