获得0积分，您同时完成了每日任务，有额外的积分奖励，请前往APP领取
立即前往
原文由 shxie 发表:
没做过XRD小角，不知道薄膜测试有什么诀窍，有机会帮你问问。
另外，我觉得薄膜测不好是不是因为薄膜太薄产生的信号不够强？如果能刮下来看看TEM试试，如果看起来结构还不错，应该就是XRD条件没调试好，如果TEM都看起来不行，那么还是想想其他诸如合成方面的原因吧。
ps：P123合成介孔，应该孔径比较大，TEM观察还算方便。
原文由 (zhangxueao) 发表:
版主千万不要删除我的帖子，本来是应该在衍射仪板块中发帖，可惜半天过去了，也没人给我建议，我只有到TEM板块了。因为据我所知，做介孔材料的XRD和TEM是必不可少的两个表征手段，这里一定聚集了很多做介孔材料的高手，故此到这儿来救助！
我用P123作为模板剂制备介孔二氧化硅薄膜，理论上在小角度0.5～2范围会有衍射峰，但是我们测试的时候发现在小角度时候总是出现入射平行光的峰，而没有预期的介孔的衍射峰，这让我们很郁闷啊，不知道哪位牛人做过这方面的工作和测试，应该采用什么测试条件。我们现在用的仪器是Rigaku D/Max 2550型号的衍射仪，应该说在国内已经可以了，在很多文献上也有人报道用Rigaku 的衍射仪做小角。
希望大家能够给予指导和帮助，谢谢！！
我的社区
签到
赛默飞实验室产品焕新计划有奖调研！
【七月征文】不一YOUNG实验“猿”
报名开启：ICS2024第十三届光谱网络会议！
推荐收藏！盘点中药材及饮片检测解决方案
