主题：【求助】安捷伦7700

原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:
你用的应该是新版G7201A软件——中文界面那种？

高灵敏度模式：RF=1550W，采样深度8mm，载气+补偿气 两路Ar气优化灵敏度

常规灵敏度模式：RF=1550W，采样深度10mm，只有一路载气Ar优化灵敏度

HMI模式：RF=1600W，采样深度10mm，载气降低，稀释气升高

屏蔽炬有三个作用：

(1)  消除采样锥口的二次放电(secondary discharge)

(2)  改变等离子体在三维空间的温度分布，显著提高灵敏度。你可以对比：套上屏蔽炬、摘除屏蔽炬的灵敏度。

(3)  屏蔽炬通过电容去耦(capacitive decoupling)，使得离子能量差异从5-10eV降为<2eV，为碰撞池He模式消除干扰做准备。待测离子（比如V Fe As）和多原子干扰（比如ClO  ArO  ArCl）在进入碰撞池时具有相同能量，这样才能被He碰撞动能歧视所甑别。

ICPMS的检测器采用电子倍增器 Electron Multiplier=EM

原文由 阶前尘(jieqian1211) 发表:
HMI模式 RF=1600W，我记得有个最高功率的，所以这个模式下RF是不是高于1600w也可以呢

原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:
你用的应该是新版G7201A软件——中文界面那种？

高灵敏度模式：RF=1550W，采样深度8mm，载气+补偿气 两路Ar气优化灵敏度

常规灵敏度模式：RF=1550W，采样深度10mm，只有一路载气Ar优化灵敏度

HMI模式：RF=1600W，采样深度10mm，载气降低，稀释气升高

屏蔽炬有三个作用：

(1)  消除采样锥口的二次放电(secondary discharge)

(2)  改变等离子体在三维空间的温度分布，显著提高灵敏度。你可以对比：套上屏蔽炬、摘除屏蔽炬的灵敏度。

(3)  屏蔽炬通过电容去耦(capacitive decoupling)，使得离子能量差异从5-10eV降为<2eV，为碰撞池He模式消除干扰做准备。待测离子（比如V Fe As）和多原子干扰（比如ClO  ArO  ArCl）在进入碰撞池时具有相同能量，这样才能被He碰撞动能歧视所甑别。

ICPMS的检测器采用电子倍增器 Electron Multiplier=EM

原文由 爱在晴天(v2646104) 发表:
采样深度是什么意思 还有怎么让7700自动测试完自动关机

原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:

原文由 爱在晴天(v2646104) 发表:
采样深度是什么意思 还有怎么让7700自动测试完自动关机

采样深度是指 第一匝RF线圈到采样锥之间的距离。

采样深度越大，等离子焰在三维空间的温度分布就很分散；采样深度越小，等离子焰温度就很集中，灵敏度也就越高，但随之而来的 Ce++/Ce+ 双电荷产率就会升高。所以采样深度通常控制在7-11mm。

原文由 悠旸(ihqs) 发表:
请教7700的采样深度可以通过软件调整吗？还是要拆下RF线圈调整位置？

原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:

原文由 悠旸(ihqs) 发表:
请教7700的采样深度可以通过软件调整吗？还是要拆下RF线圈调整位置？

你用PE ICPMS，也难怪会问出这些问题。PE RF线圈与采样锥之间的距离是固定的，所以不能调节采样深度。

Agilent  Bruker  Thermo 三家可在点火状态下通过软件控制、控制炬箱X-Y-Z三轴定位。