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主题：【求助】塞曼背景校正？？？

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发表于：2013/04/10 10:20:38 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
请问大家，请大家解答，谢谢！！！！
在德国耶拿的AAS培训资料上写道：
塞曼背景校正：
磁场开启，测定总吸收值(元素特征+非特征背景干扰)；
关闭磁场，测定背景吸收（非特征背景干扰)；
两值之差既是经过校正了的元素特征吸收。
-----------------------------------------
我的疑问是？耶拿的资料是不是错了？是否应该是：
磁场开启，测定总吸收值(非特征背景干扰)，即测定背景；
关闭磁场，测定背景吸收（元素特征+非特征背景干扰)；即测定背景+AA。
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2013/4/10 10:31:07 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 071010(071010) 发表:
请问大家，请大家解答，谢谢！！！！
在德国耶拿的AAS培训资料上写道：
塞曼背景校正：
磁场开启，测定总吸收值(元素特征+非特征背景干扰)；
关闭磁场，测定背景吸收（非特征背景干扰)；
两值之差既是经过校正了的元素特征吸收。
-----------------------------------------
我的疑问是？耶拿的资料是不是错了？是否应该是：
磁场开启，测定总吸收值(非特征背景干扰)，即测定背景；

关闭磁场，测定背景吸收（元素特征+非特征背景干扰)；即测定背景+AA。


我感觉也应该是开磁场时测的是背景，不开磁场时测的是总吸光度
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