原文由 shufengliu(shufengliu) 发表:
1,峰形出现双峰,会有哪些因素引起?
2,峰形出现肩峰,会有哪些因素引起?
3,软件里推荐的基改是不是对所有情况的基体都管用?
4,若背景峰的面积占测定峰的面积太大,会不会影响结果的准确性?
5,若利用“标准加入法”比较斜率的方法判断基体干扰的程度,直接比较斜率的大小是否妥当?是不是应该有一些数理统计方面的手段。因为,两次做的曲线斜率都不一样,差别在多少时,算是干扰?
6,石墨炉原子化时,被测元素应该是以基态原子(绝大多数)的形态存在,为什么三价铬和六价铬的吸光度值会差别很大?
我先来简单的回答下你的一些问题,峰形问题留给haodou000解答。
3,软件里推荐的基改并不是对所有情况都合适。一些高温元素是可以不加基改的。如:我在测铬时,发现不用基改时的信号值比用基改时的信号值要高很多,而且背景也小很多,因此我在测铬时没有用软件推荐的基改。关于软件推荐的条件,我一般这样操作:先按推荐条件做一遍,然后再自行优化参数,你可以通过改变某些参数对比其信号值大小来决定,过程中有好的想法也是可以试试的。
4,如果用的火焰法会有一定的影响,因为火焰法用的是氘灯扣背景;如果用石墨炉一般没什么影响,石墨炉法用的是塞曼扣背景,只要保证同支溶液两次读数的背景差不多就可以。详情请参考我发的一贴“关于背景校正技术”。
5,标准加入法能消除的干扰只是基体干扰,因为AAS是单波长,一般不会有元素干扰。基体匹配也能消除基体干扰,即在标准曲线中的基体与样品基体保持大体一致。如:测90%铅中的铁,你的标准曲线应该用90%铅溶液来定容。
6,AAS要将元素原子化才能测其吸光值,不同价态的元素其原子化需要的能量是不一样的。容易原子化的信号值当然大些,难原子化的信号值会小些。检测器辨别的是原子化了的元素,并不是绝大多数元素在原子化阶段都以基态原子存在。
以上是本人的一些看法,不足或有错之处请指出。希望能帮到你,欢迎你常来。