主题：【讨论】采用CCD的检测器，基体效应相比PMT的大还是小了呢？

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待测元素含量相同，由于其基体成份不同，测量到的待测元素特征X射线强度是不同的，这就是基体效应。基体效应是X射线荧光定量分析的主要误差来源之一。

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待测元素含量相同，由于其基体成份不同，测量到的待测元素特征X射线强度是不同的，这就是基体效应。基体效应是X射线荧光定量分析的主要误差来源之一。

如果是这样没有可比性. 简单假设有元素A, B, C. 一种能多出有AB, AC组合. 另一种是多出AB, BC组合. 由于电子云在不同势场里的电极化能力不同, 被X射线激发跃迁的几率都不一样, 作为干扰线所占比例还不一样, 即使对同一探测器就是个随机事件.

原文由 云☆飘☆逸(denx5201314) 发表:

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待测元素含量相同，由于其基体成份不同，测量到的待测元素特征X射线强度是不同的，这就是基体效应。基体效应是X射线荧光定量分析的主要误差来源之一。

如果是这样没有可比性. 简单假设有元素A, B, C. 一种能多出有AB, AC组合. 另一种是多出AB, BC组合. 由于电子云在不同势场里的电极化能力不同, 被X射线激发跃迁的几率都不一样, 作为干扰线所占比例还不一样, 即使对同一探测器就是个随机事件.

晕，不懂，看不懂，电子云啊，老难了

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待测元素含量相同，由于其基体成份不同，测量到的待测元素特征X射线强度是不同的，这就是基体效应。基体效应是X射线荧光定量分析的主要误差来源之一。

如果是这样没有可比性. 简单假设有元素A, B, C. 一种能多出有AB, AC组合. 另一种是多出AB, BC组合. 由于电子云在不同势场里的电极化能力不同, 被X射线激发跃迁的几率都不一样, 作为干扰线所占比例还不一样, 即使对同一探测器就是个随机事件.

晕，不懂，看不懂，电子云啊，老难了

Why did you want to comapre the detectors, for application?

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Why did you want to comapre the detectors, for application?

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Why did you want to comapre the detectors, for application?

Why did you want to comapre the detectors, for application ? 错了

应该是 Why did you want to compare the detectors, for application ?

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待测元素含量相同，由于其基体成份不同，测量到的待测元素特征X射线强度是不同的，这就是基体效应。基体效应是X射线荧光定量分析的主要误差来源之一。

如果是这样没有可比性. 简单假设有元素A, B, C. 一种能多出有AB, AC组合. 另一种是多出AB, BC组合. 由于电子云在不同势场里的电极化能力不同, 被X射线激发跃迁的几率都不一样, 作为干扰线所占比例还不一样, 即使对同一探测器就是个随机事件.

晕，不懂，看不懂，电子云啊，老难了

Why did you want to comapre the detectors, for application?

啥，中文啊。不明白

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Why did you want to comapre the detectors, for application?

Why did you want to comapre the detectors, for application ? 错了

应该是 Why did you want to compare the detectors, for application ?

You're right. Since my computer has something wrong with it, I temporarily use collegue's, but only english keybord can be used. So that is why I wrote in English. Sorry for that.

原文由 hushengping(hushengping) 发表:
应该是大。直读光谱仪的基体效应主要来自于基体的谱线干扰，而CCD检测器的仪器分辨率普较PMT的普遍偏低。