原文由 wangqingxiang51(wangqingxiang51) 发表:
这两个指标各产家都特别宣传过,在JJF1159-2006(四级杆电感耦合等离子体规范)中列入考核指标;再者,在同位素稀释法,和同位素示踪应用时,这两个指标是严格控制的。你们那只是没有这方面的需求,只是简单的应用,当然觉得这个指标多余。
四极杆
ICP-MS 同位素比值测试的内精度很一般(107Ag/109Ag RSD<0.08%,即±800ppm),只适合变化较大的同位素体系(例如Pb),并且只能测定 207Pb/206Pb、208Pb/206Pb 这两组比值(因为204Pb信号很低,且有204Hg干扰,不适合作为比值分母)。Pb同位素示踪更常用的是 206Pb/204Pb、207Pb/204Pb、208Pb/204Pb 这三组比值,是用TIMS或者MC-
ICP-MS完成测试,内精度优于±25ppm。
同位素稀释质谱法测定时,需要关注【测量比值】的质量歧视校正。但在四极杆
ICP-MS上,没办法考虑质量歧视校正。只有在TIMS或者MC-
ICP-MS这类多接收磁质谱上,并且使用双稀释剂时(double spiker),才能考虑质量歧视校正。
综上所述:你说同位素稀释法/同位素示踪 跟四极杆丰度灵敏度指标,压根不沾边。
如果你没做过 ID-MS,那你的发言就是张口跑火车。如果你做过 ID-MS,那说明你的基本功不扎实。