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ID：xiaowang268
行业：其他
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ID：jimzhu
原文由 symmacros(jimzhu) 发表:理论上在各自的标准曲线下测定是可以得到准确结果的，但一般这种实验应在同样仪器同样的条件下测试，以避免其它因素的影响。
原文由 xiaowang268(xiaowang268) 发表:原文由 symmacros(jimzhu) 发表:理论上在各自的标准曲线下测定是可以得到准确结果的，但一般这种实验应在同样仪器同样的条件下测试，以避免其它因素的影响。那实际上可以做吗？
原文由 symmacros(jimzhu) 发表:原文由 xiaowang268(xiaowang268) 发表:原文由 symmacros(jimzhu) 发表:理论上在各自的标准曲线下测定是可以得到准确结果的，但一般这种实验应在同样仪器同样的条件下测试，以避免其它因素的影响。那实际上可以做吗？在实在无办法的情况下，例如A仪器可能无法用了，只好用B了，但应该做某些验证。
ID：doczheng
原文由 doczheng(doczheng) 发表:这个肯定是可以的，因为仪器首先是进过校验之后保证工作稳定性的前提下才能进行试验的，我们在实验上做过两台不同仪器的同一样品的结果比对，根本没什么问题
原文由 xiaowang268(xiaowang268) 发表:原文由 doczheng(doczheng) 发表:这个肯定是可以的，因为仪器首先是进过校验之后保证工作稳定性的前提下才能进行试验的，我们在实验上做过两台不同仪器的同一样品的结果比对，根本没什么问题结果肯定是差不多的，就怕申报资料时通不过，不知道有没有这方面的规定呢？
原文由 doczheng(doczheng) 发表:原文由 xiaowang268(xiaowang268) 发表:原文由 doczheng(doczheng) 发表:这个肯定是可以的，因为仪器首先是进过校验之后保证工作稳定性的前提下才能进行试验的，我们在实验上做过两台不同仪器的同一样品的结果比对，根本没什么问题结果肯定是差不多的，就怕申报资料时通不过，不知道有没有这方面的规定呢？这方面的规定，我还真没有听说呢
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