主题：XRD的数据处理方法咨询！！

对于你这个问题，我不能给你软件，但是，我可以给你一些提示。因为我很早以前编写过这么个软件。
实际上，你的问题包括三个问题：
第一个问题是，如何把一个峰分成三个峰，这个问题现在非常简单，用JADE的拟合方法就可以把一个峰任意分成几个峰。这样，你的第一个问题就解决了。
第二个问题是，如何计算三种组分的含量，这个问题也非常简单，通过第一个步骤，你可以得到一个拟合结果，三个峰的积分强度就在其中，而且，三种组分都是结构相同的石墨，因此，它们的RIR值相同，它们相对百分比就是它们的强度比。
第三个问题是，如何计算石墨化度。我记得原来软件的帮助是这样写的：
1.样品制备：
  将待测样品粉末与少量标准Si粉末充分混合,制作混合样品,以Si峰作为仪器误差的校准物
2.测量:
  对于结晶较好的样品,建议选择石墨的(004)衍射峰和随后出现的Si峰,测量范围可选择51-57;如果样品结果状态不好,应当选择石墨的(002)衍射峰和随后的Si衍射峰,测量范围为22-30(如果不做混合样品,也可以预先测定标准Si的衍射角度)
3.作Kα2去除
  对于结晶状态良好,石墨衍射峰可作Kα2分离的情况,可在数据预处理时对其去除,也可不去除,两种情况所以衍射波长应当不同,程序根据选择项自动处理波长的数值
4.数据预处理
  衍射峰测量后,打开Jade,对所测衍射峰位作拟合,保存拟合数据备用.对于衍射峰很宽的情况,主要由于样品中存在多种C轴长度的石墨晶体,因此应作多峰分离
5.计算结果说明
  程序按衍射峰的分离情况,对每一个衍射峰的峰顶角度和重心角度分别计算G值,并取二者的平均值.最后按各峰质量分数权重计算最终G值结果
6.计算公式与标准
  G=((0.3440-C/2)/0.086)*100
  G:石墨化度(%), C:六方晶系石墨C轴的点阵常数(nm),标准值为C=0.6708nm
  当C=0.6708nm时,G=100%,C=0.6880nm时,G=0%
  使用标准为部颁标准QJ2507-93
这样看来，你做完第一步后，你可以得到三种组分的衍射角，扣除仪器误差（硅峰位-标准卡片上的硅峰位），再按六方晶格（004面）计算出三种组分的C轴数据，用上面的公式一分钟按计算器也算出来了。
你还要什么软件吗？自己亲自做的数据处理过程一方面会增加你对这方面的认识，另一方面，数据处理过程还可以写进你的论文。我想比买一个现成的软件强多了。
不好意思，我本来想找出原来写的那个程序给你，但几次病毒弄得我几台电脑上都没有找到了。你就自己去算吧。

哎呀，没看清你还有一个问题。
不过，我没有什么建议，我只是对你说的LiCoMnNiO2这个结构感兴趣。你如果方便，请你发一两个这样的测量数据文件给我，顺便告诉我这种结构的PDF卡片号是多少。
你放心，我不做电池材料，我是做铝合金的，不会拿你的数据去发文章。只是原来帮人家做过几个这样的样品的XRD测量，我一直使用的卡片是88-1606（好象是这个，很久了，不记得清了）。我没有找到你说的这种相的卡片。因此，心里有个事挂着而已。

另外,你有数据要分析石墨化度吗?你发到我的邮箱,我可以给你看看.