原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:
再请教冯老师一个问题。关于EDS测试中process time和current (aperture)的问题。我之前一直被教育说这是一个trade-off,然后dead time是他们俩和谐与否的重要体现。如dead time于30-60%之间,则说明我的process time和current合理。当时也没有细想。
但是我这次看oxford的说明书,上面虽持同样观点,但是给出的解释是说这些和time是一个balance。大process time会提高分辨率,大current会提高信号强度,但是同时会使测试时间大幅增加。
我理解此种说法,但是怀疑大的process time和current只有此一点drawback么?如果假设我有足够的时间,是否就应该使用较大的参数,即使dead time达到70-80%,但定量分析的结果会更准确呢?
如不是,原因何在?
谢谢老师!!
原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:
每个处理时间输入输出计数图. 输入计数标示在水平轴, 输出计数标注在垂直轴上. 随输入计数增加(增加电镜电流)输出计数增加直到某一点, 当死时间达70%*时输出计数开始下降.,指示获取状态的标记变红, 不应在这个范围工作,因为X射线强度和电子束电流间的关系不可预见, 它可严重影响定量分析.
系统在计数过程中快速通道会记录不可测量的x-光子的数量,当这个数量达到256个时系统会停下来给慢速通道补记这256个计数,这就是死时间的来源。但是在许多被测量的元素中补记给哪一个元素?答案是补记给最后检测到的那一个元素。实际上这256个计数应该分享给若干的元素。这也是形成统计误差的一部分。死时间越长这个误差就越大,大到不能容忍时就是死时间的最大允许值。所以一般将死时间控制在40%左右认为不会对检测结果有影响。
原文由 ssssss0527(ssssss0527) 发表:
如果使用pulse pile up,是不是就不用担心所谓 和峰 (sum peak?)的出现?