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原文由 老头(shguan) 发表:原文由 chauchylan(chauchylan) 发表:
从数学的角度来理解的话，BEC就是校准曲线的截距所对应的含量是多少。
BEC由仪器的灵敏度及分析的精密度所决定。分析的精密度一定时，BEC越小，则DL也随之越小。
这个要赞成！还要加两条，1、BEC还由受干扰大小决定的。2、还由背景大小决定的。但是“及分析的精密度”可能不对吧！DL可以由精度决定的（光强的精度）。老头
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从数学的角度来理解的话，BEC就是校准曲线的截距所对应的含量是多少。
BEC由仪器的灵敏度及分析的精密度所决定。分析的精密度一定时，BEC越小，则DL也随之越小。
这个要赞成！还要加两条，1、BEC还由受干扰大小决定的。2、还由背景大小决定的。但是“及分析的精密度”可能不对吧！DL可以由精度决定的（光强的精度）。老头
个人认为，仪器的精密度是保证仪器BEC及DL比较低的必备条件，如果一台仪器的精密度不够好的话，BEC及DL也不会太好。
校准曲线的斜率实际已经将仪器的噪音、光谱背景大小及光谱干扰因素已经包括进来了。
实质，对于SPARK-OES，DL=3*RSD*BEC这个公式并不重要，但是对于ICP-OES及ICP-MS这是一个重要的关系式，这也是为何SPECTRO工程师的ICP-OES PPT中会出现此公式。
个人观点，不一定正确，大家补充。
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从数学的角度来理解的话，BEC就是校准曲线的截距所对应的含量是多少。
BEC由仪器的灵敏度及分析的精密度所决定。分析的精密度一定时，BEC越小，则DL也随之越小。
这个要赞成！还要加两条，1、BEC还由受干扰大小决定的。2、还由背景大小决定的。但是“及分析的精密度”可能不对吧！DL可以由精度决定的（光强的精度）。老头
个人认为，仪器的精密度是保证仪器BEC及DL比较低的必备条件，如果一台仪器的精密度不够好的话，BEC及DL也不会太好。
校准曲线的斜率实际已经将仪器的噪音、光谱背景大小及光谱干扰因素已经包括进来了。
实质，对于SPARK-OES，DL=3*RSD*BEC这个公式并不重要，但是对于ICP-OES及ICP-MS这是一个重要的关系式，这也是为何SPECTRO工程师的ICP-OES PPT中会出现此公式。
个人观点，不一定正确，大家补充。
纠正：“校准曲线的斜率实际已经将仪器的噪音、光谱背景大小及光谱干扰因素已经包括进来了。”
更改为“校准曲线的截距实际已经将仪器的噪音、光谱背景大小及光谱干扰因素已经包括进来了。”
这一改还真的比较合适了！但是干扰对斜率也有影响（因为我们用的是干扰等效含量法-表观含量法）。其实DL=3*RSD*BEC 对火花直读同样重要。只不过ICP对BEC理解的过于肤浅罢了。他们很多人认为扣除空白灵敏度就高了。他们没有截距的观念，只有斜率的观念（我不是说所有的人呀，对不起ICP人了）。所以很多现象他们解释困难。（我又得罪人了）老头
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