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主题：【求助】xps 谱线分析

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发表于：2013/11/23 16:07:07 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
大家好！有人有xps 分析太阳能薄膜材料 Cu（In，Ga）Se2 材料制备过程中生成的Cu2-xSe吗？

前段时间 投了一篇文章，在文章中 我说薄膜表面产生的 Cu2-xSe 使 薄膜的Cu含量升高，但是审稿人

对这个提出异议，对Cu2-xSe在表面富集的说法 表示不信服，让我使用xps分析薄膜。我现在已经得到了

xps结果，但是不知道如何分析，请求高手帮助，谢谢！Cu 和 Se的 谱线如下图所示：

  刻蚀前的：

 

刻蚀后 ：
     
       
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2013/11/26 11:53:34 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
有原始数据吗？可以在刻蚀前和刻蚀后进行相对定量，看看Cu的是否在刻蚀前比较高 而随着剖析深度增加而Cu含量下降，此外，看看在表面的Cu是否以Cu2-xSe的形式存在。
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