主题:[求助]关于介孔分子筛的TEM和XRD测试

浏览0 回复18 电梯直达
天黑请闭眼
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原文由 weiy 发表:
如果做xrd小角时出现了一个峰,但是很低,是说明材料结晶的不好吗?
xrd在小角出现峰,一定是介孔材料吗?还有其他的可能吗?
谢谢

BET的结果呢?如果都不理想,基本就说明材料的孔结构比较差。
XRD的小角出现峰,未必是介孔材料的。有较长周期的结构应该就有可能出现小角衍射。
weiy
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谢谢shxie!
我合成介孔材料,现在的材料拿去做xrd在小角的地方有一个峰,但强度不高,是不是说明已经出现结晶了,我现在在改变条件,不知能不能合成出来!可能还要走好远的路!呵呵
zhangxueao
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原文由 shxie 发表:
小角XRD峰不好TEM未必差,但是还是把小角做好了保险一点,毕竟做小角要比TEM简单易行多了。
至于为什么合成的不好,我想总归要试条件了,还有制备时的天气据说也有关系,呵呵。


shxie提到制备条件的影响,这个在制备介孔薄膜的时候影响更大,我就在试验中遇到过,比如说空气中的湿度以及环境温度都对介孔的有序性,甚至介观结构都有影响。介孔材料的制备还是很有意思的。
maxwell
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原文由 weiy 发表:
如果做xrd小角时出现了一个峰,但是很低,是说明材料结晶的不好吗?
xrd在小角出现峰,一定是介孔材料吗?还有其他的可能吗?
谢谢


如果在小角出现峰,但很弱,
这种情况有可能 纯粹是制样引起的。

有这样一种情况:

样品制备不平整,中间略突起,

当实验开始时,x射线的角度很低,此时x射线被样品挡住,因此衍射强度小,
随后越过这一高度后,衍射变强,
这样即形成一个峰。

这种峰显然不能说明问题。

当然,这只是一种可能。
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原文由 maxwell 发表:
如果在小角出现峰,但很弱,
这种情况有可能 纯粹是制样引起的。

有这样一种情况:

样品制备不平整,中间略突起,

当实验开始时,x射线的角度很低,此时x射线被样品挡住,因此衍射强度小,
随后越过这一高度后,衍射变强,
这样即形成一个峰。

这种峰显然不能说明问题。

当然,这只是一种可能。

这样啊?长见识了,多谢
mln2007
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我是初学做分子筛的,但是无意中做了次XRD,但是结果我看不懂,在小角有两个峰,第一个的位置在1.2620,峰高度有14687.79,d值为70.00623;第二个在2.4303,峰高13354.20,d值36.35262。我看不懂,望高手指点
蓝莓口香糖
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原文由 mln2007 发表:
我是初学做分子筛的,但是无意中做了次XRD,但是结果我看不懂,在小角有两个峰,第一个的位置在1.2620,峰高度有14687.79,d值为70.00623;第二个在2.4303,峰高13354.20,d值36.35262。我看不懂,望高手指点

重新发个帖子吧。对于旧帖子尽量只浏览,不跟帖。除非对原先的内容有异议。
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原文由 drizzlemiao 发表:
原文由 mln2007 发表:
我是初学做分子筛的,但是无意中做了次XRD,但是结果我看不懂,在小角有两个峰,第一个的位置在1.2620,峰高度有14687.79,d值为70.00623;第二个在2.4303,峰高13354.20,d值36.35262。我看不懂,望高手指点

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