原文由 娃娃19882009(v2894267) 发表:
1、需要配积分球,积分球其实就是一种特殊的检测器,可以平均光信号,去除因为样品形状等的不同带来的误差,据我所知,测固体样品一般都会配积分球的,这样结果的重现性才好
2、关于光谱带宽,越宽肯定光能量越强,但是杂散光可能比较大,越小能量就弱了,我一般做实验的时候都是改变一下狭缝,得到的谱图光滑重现性好就可以了
3、其他参数上,我只用过日立的,每次都是设定需要测定的波长范围,是测透过反射还是吸收,然后是扫描速度,一般都是优化条件的时候快点扫省时间,优化好了再把速度降下来,电压有自动和固定,我一般都选自动模式,狭缝也有固定和自动,这个我一般都是选固定,自己优化一下的。我觉得挺简单的还,其他家的仪器没用过,欢迎大家讨论~
原文由 chemwell(v2899973) 发表:原文由 娃娃19882009(v2894267) 发表:
1、需要配积分球,积分球其实就是一种特殊的检测器,可以平均光信号,去除因为样品形状等的不同带来的误差,据我所知,测固体样品一般都会配积分球的,这样结果的重现性才好
2、关于光谱带宽,越宽肯定光能量越强,但是杂散光可能比较大,越小能量就弱了,我一般做实验的时候都是改变一下狭缝,得到的谱图光滑重现性好就可以了
3、其他参数上,我只用过日立的,每次都是设定需要测定的波长范围,是测透过反射还是吸收,然后是扫描速度,一般都是优化条件的时候快点扫省时间,优化好了再把速度降下来,电压有自动和固定,我一般都选自动模式,狭缝也有固定和自动,这个我一般都是选固定,自己优化一下的。我觉得挺简单的还,其他家的仪器没用过,欢迎大家讨论~
谢谢您的回复,还有一点就是:带宽较宽的为什么做出来的曲线会平滑很多呢。
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1、需要配积分球,积分球其实就是一种特殊的检测器,可以平均光信号,去除因为样品形状等的不同带来的误差,据我所知,测固体样品一般都会配积分球的,这样结果的重现性才好
2、关于光谱带宽,越宽肯定光能量越强,但是杂散光可能比较大,越小能量就弱了,我一般做实验的时候都是改变一下狭缝,得到的谱图光滑重现性好就可以了
3、其他参数上,我只用过日立的,每次都是设定需要测定的波长范围,是测透过反射还是吸收,然后是扫描速度,一般都是优化条件的时候快点扫省时间,优化好了再把速度降下来,电压有自动和固定,我一般都选自动模式,狭缝也有固定和自动,这个我一般都是选固定,自己优化一下的。我觉得挺简单的还,其他家的仪器没用过,欢迎大家讨论~
谢谢您的回复,还有一点就是:带宽较宽的为什么做出来的曲线会平滑很多呢。
我觉得是因为入射光能量高的原因。改变狭缝改变的是入射光的强度,而纵坐标表现的透过率是样品侧与参比侧的比较结果。也就是说狭缝变小,总的光强变弱,样品的T%强度不会变,但是检测器检测到的样品测的光信号其实变弱了,因此整体得到的谱图波动会变大,狭缝变大是一样的道理。这是我个人的理解哈~
原文由 娃娃19882009(v2894267) 发表:
你的样品是要测近红外区么?没用过普析的仪器,不过从我的使用感觉一般仪器的标识范围比实际测量范围都要大一点,比如说标识能测到900的,其实只能到800,到900的时候噪声超级大,标到1100的可能只能测到900,不知道为啥。你要是做近红外区的就买到紫外可见近红外分光光度计喽,肯定能满足你的要求。我们实验室只有日立的4100,配上积分球能做到2400nm,用着还不错,比较稳定,没发现什么问题,你要是测薄膜可能还要配一些附件,什么薄膜支架一类的,具体的不太了解,你最好自己打电话了解,其他厂家都没用过,不好推荐啦~